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디아릴아민 노볼락 수지 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • C08G-012/08
  • C08G-012/26
  • C08G-016/02
  • G03F-007/11
  • H01L-021/027
출원번호 10-2014-7010026 (2014-04-15)
공개번호 10-2014-0069163 (2014-06-09)
등록번호 10-1989313-0000 (2019-06-10)
우선권정보 일본(JP) JP-P-2011-214555 (2011-09-29)
국제출원번호 PCT/JP2012/074551 (2012-09-25)
국제공개번호 WO 2013/047516 (2013-04-04)
번역문제출일자 2014-04-15
DOI http://doi.org/10.8080/1020147010026
발명자 / 주소
  • 사카모토, 리키마루 / 일본, 토야마 *******, 토야마-시, 후추-마치, 사사쿠라, ***, 닛산 가가쿠 고교 가부시키가이샤 전자 재료 연구소내
  • 소메야, 야스노부 / 일본, 토야마 *******, 토야마-시, 후추-마치, 사사쿠라, ***, 닛산 가가쿠 고교 가부시키가이샤 전자 재료 연구소내
  • 하시모토, 케이스케 / 일본, 토야마 *******, 토야마-시, 후추-마치, 사사쿠라, ***, 닛산 가가쿠 고교 가부시키가이샤 전자 재료 연구소내
  • 니시마키, 히로카즈 / 일본, 토야마 *******, 토야마-시, 후추-마치, 사사쿠라, ***, 닛산 가가쿠 고교 가부시키가이샤 전자 재료 연구소내
출원인 / 주소
  • 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 / 일본국 도쿄도 쥬오쿠 니혼바시 *쵸메 *반 *고
대리인 / 주소
  • 특허법인씨엔에스
심사청구여부 있음 (2017-07-03)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

[과제] 신규한 페닐나프틸아민 노볼락 수지 등의 디아릴아민 노볼락 수지, 나아가 이 수지를 이용한 반도체 장치 제조의 리소그래피 프로세스에 이용하기 위한 레지스트 하층막 형성 조성물을 제공한다. [해결수단] 하기식(1): (식(1) 중, Ar1, 및 Ar2는 각각 벤젠환, 또는 나프탈렌환을 나타낸다)로 표시되는 단위구조(A)를 포함하는 폴리머.반도체 기판에 레지스트 하층막 형성 조성물에 의해 하층막을 형성하는 공정, 그 위에 하드 마스크를 형성하는 공정, 다시 그 위에 레지스트막을 형성하는 공정, 광 또는 전자선의 조사와 현상에 의

대표청구항

하기 식(1):(식(1) 중, Ar1, 및 Ar2는 각각 벤젠환, 또는 나프탈렌환을 나타내고, R1 및 R2는 각각 이들 환상의 수소원자의 치환기이고 할로겐기, 니트로기, 아미노기, 하이드록시기, 탄소원자수 1 내지 10의 알킬기, 탄소원자수 2 내지 10의 알케닐기, 탄소원자수 6 내지 40의 아릴기, 및 이들의 조합으로 이루어진 군으로부터 선택되며, 또한, 이 알킬기, 이 알케닐기 및 이 아릴기는, 에테르 결합, 케톤 결합, 혹은 에스테르 결합을 포함하고 있을 수도 있는 유기기를 나타내고,R3은 수소원자, 탄소원자수 1 내지 1

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. [국제] CARBAZOLE NOVOLAK RESIN | SAITO DAIGO, OKUYAMA HIROAKI, MUSASHI HIDEKI, SHINJO TETSUYA, HASHIMOTO KEISUKE

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. [한국] 반사방지용 하드마스크 조성물 | 최상준
  2. [한국] 하드마스크용 중합체, 상기 중합체를 포함하는 하드마스크용 조성물, 및 이를 이용한 반도체 소자의 패턴 형성 방법 | 김명구, 최아름, 김부득, 이송세, 최정식
  3. [한국] III족 질화물계 화합물층을 갖는 반도체기판의 제조방법 | 하시모토, 케이스케, 소메야, 야스노부, 호리, 마사루, 세키네, 마코토
  4. [한국] 막밀도가 향상된 레지스트 하층막을 형성하기 위한 조성물 | 토쿠나가, 히카루, 오노, 마사시, 사카모토, 리키마루, 하시모토, 케이스케
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