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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2015-0011256 (2015-01-23) | |
등록번호 | 10-1618849-0000 (2016-04-29) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020150011256 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2015-01-23) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 스테이지의 평탄도 교정이 용이한 반도체 검사 장치에 관한 것으로, 교정부를 상하 이동시켜서 교정판과 베이스 간의 이격 거리를 용이하게 조절할 수 있으므로, 간단한 방법으로 스테이지의 평탄도를 용이하게 교정할 수 있게 되며, 따라서 스테이지에 구비된 반도체 칩의 높이를 정확하게 측정할 수 있게 되고, 검사의 신뢰도를 높일 수 있게 되는 효과가 있다.
베이스;상기 베이스의 상부에 이격되며 그 상면에 반도체 칩이 실장된 기판이 안착되는 스테이지;일측은 상기 스테이지와 연결되고 타측은 상기 베이스 방향으로 연장되는 지지부재;상기 지지부재와 상기 베이스 사이에 구비되되, 일측은 상기 지지부재와 연결되고, 타측은 상기 베이스와 마주보도록 배치되는 교정판; 및상기 교정판과 상기 베이스 간의 이격 거리를 교정하는 교정부를 포함하고,상기 지지부재는:상기 교정판에 고정된 상태로 상기 스테이지 방향으로 돌출되는 한 쌍의 이동안내부;한 쌍의 상기 이동안내부를 따라 슬라이딩 가능하도록 결합되는 한
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