$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

스테이지의 평탄도 교정이 용이한 반도체 검사 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/66
출원번호 10-2015-0011256 (2015-01-23)
등록번호 10-1618849-0000 (2016-04-29)
DOI http://doi.org/10.8080/1020150011256
발명자 / 주소
  • 서정은 / 인천광역시 남구 경인남길 ***
출원인 / 주소
  • 아메스산업(주) / 경기도 광명시 하안로 **, 씨동 **층 (소하동, 광명테크노파크)
대리인 / 주소
  • 김윤보
심사청구여부 있음 (2015-01-23)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 스테이지의 평탄도 교정이 용이한 반도체 검사 장치에 관한 것으로, 교정부를 상하 이동시켜서 교정판과 베이스 간의 이격 거리를 용이하게 조절할 수 있으므로, 간단한 방법으로 스테이지의 평탄도를 용이하게 교정할 수 있게 되며, 따라서 스테이지에 구비된 반도체 칩의 높이를 정확하게 측정할 수 있게 되고, 검사의 신뢰도를 높일 수 있게 되는 효과가 있다.

대표청구항

베이스;상기 베이스의 상부에 이격되며 그 상면에 반도체 칩이 실장된 기판이 안착되는 스테이지;일측은 상기 스테이지와 연결되고 타측은 상기 베이스 방향으로 연장되는 지지부재;상기 지지부재와 상기 베이스 사이에 구비되되, 일측은 상기 지지부재와 연결되고, 타측은 상기 베이스와 마주보도록 배치되는 교정판; 및상기 교정판과 상기 베이스 간의 이격 거리를 교정하는 교정부를 포함하고,상기 지지부재는:상기 교정판에 고정된 상태로 상기 스테이지 방향으로 돌출되는 한 쌍의 이동안내부;한 쌍의 상기 이동안내부를 따라 슬라이딩 가능하도록 결합되는 한

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. [한국] 반도체 두께측정설비의 스테이지 높이조절장치 | 강민섭
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로