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연합인증

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실리콘 러버 소켓 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-001/04
  • G01R-031/26
출원번호 10-2015-0045635 (2015-03-31)
공개번호 10-2016-0117049 (2016-10-10)
등록번호 10-1667929-0000 (2016-10-14)
DOI http://doi.org/10.8080/1020150045635
발명자 / 주소
  • 오창수 / 충청남도 천안시 서북구 직산읍 군수*길 ***
  • 김보현 / 충청남도 천안시 서북구 직산읍 군수*길 ***
  • 우승호 / 충청남도 천안시 서북구 직산읍 군수*길 ***
  • 최원희 / 충청남도 천안시 서북구 직산읍 군수*길 ***
  • 이윤형 / 충청남도 천안시 서북구 직산읍 군수*길 ***
출원인 / 주소
  • (주)티에스이 / 충청남도 천안시 서북구 직산읍 군수*길 ***
대리인 / 주소
  • 윤동열
심사청구여부 있음 (2015-03-31)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 실리콘 러버 소켓에 처짐 보상부를 형성하여 처짐이 발생되는 반도체 소자의 단자와 실리콘 러버 소켓의 도전부가 균일하게 접촉될 수 있도록 하는 실리콘 러버 소켓을 제공하고자 한 것이다.이를 위해, 본 발명은 반도체 소자의 단자와 테스트 보드의 도전 패드를 전기적으로 연결시키기 위해 실리콘 고무로 이루어진 절연부와, 복수의 도전성 입자 및 실리콘 고무가 융합되어 상기 절연부를 관통하도록 형성된 적어도 하나의 도전부를 포함하는 실리콘 러버 소켓에 있어서, 상기 도전부에는 반도체 소자의 단자와 도전부가 접촉 시 반도체 소자의 처

대표청구항

반도체 소자(10)의 단자(11)와 테스트 보드(20)의 도전 패드(21)를 전기적으로 연결시키기 위해 실리콘 고무(110a)로 이루어진 절연부(110)와, 복수의 도전성 입자(120a) 및 실리콘 고무(110a)가 융합되어 상기 절연부(110)를 관통하도록 형성된 적어도 하나의 도전부(120)를 포함하는 실리콘 러버 소켓(100)에 있어서,상기 도전부(120)에는 반도체 소자(10)의 단자(11)와 도전부(120)가 접촉 시, 반도체 소자의 처짐을 보상하기 위해 상기 반도체 소자(10)의 처짐 위치에 대응하는 부분에 처짐 보상부(

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. [한국] 고밀도 도전부를 가지는 테스트용 소켓 | 이재학
  2. [일본] CONTACT STRUCTURE OF IC SOCKET | KURIHARA MITSUGI

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. [한국] 외부 도체 역할을 통해서 신호 전송 특성을 개선하는 그라운드 메탈 플레이트, 및 이를 포함하는 테스트 소켓 | 박성규, 전진국
  2. [한국] 테스트 장비 | 이항림, 김용구, 장주용
  3. [한국] 신호 전송 커넥터 | 김보현
  4. [한국] 다수의 러버 소켓이 수직으로 적층되는 테스트 소켓 | 전진국, 박성규, 박영식
  5. [한국] 반도체 패키지의 테스트 장치 | 노대현, 남윤찬
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