초록 ▼

본 발명은 측정 대상 측정 대상 물체로 라인 패턴광을 조사하고, 측정 대상 물체 표면으로부터 반사되는 라인 패턴광의 라인 프로파일을 분석하여 측정 대상 물체 표면의 단차값을 1차적으로 산출한 후, 이 단차값에 대응되는 주기를 갖는 격자 패턴광을 조사하여 측정 대상 물체의 높이값을 산출함으로써, 보다 정확한 3차원 형상을 측정할 수 있도록 해 주는 3차원 형상 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 3차원 형상 측정 방법은 패턴광 발생수단에서 형상측정단말로부터 제공되는 라인 패턴이미지를 이용하여 측정 대상 물체로 라인 패턴광을 조

본 발명은 측정 대상 측정 대상 물체로 라인 패턴광을 조사하고, 측정 대상 물체 표면으로부터 반사되는 라인 패턴광의 라인 프로파일을 분석하여 측정 대상 물체 표면의 단차값을 1차적으로 산출한 후, 이 단차값에 대응되는 주기를 갖는 격자 패턴광을 조사하여 측정 대상 물체의 높이값을 산출함으로써, 보다 정확한 3차원 형상을 측정할 수 있도록 해 주는 3차원 형상 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 3차원 형상 측정 방법은 패턴광 발생수단에서 형상측정단말로부터 제공되는 라인 패턴이미지를 이용하여 측정 대상 물체로 라인 패턴광을 조사하는 제1 단계와, 촬영수단에서 라인 패턴광이 조사된 측정 대상 물체를 촬영하는 제2 단계, 형상측정단말에서 상기 촬영수단으로부터 제공되는 촬영영상에서 라인 패턴이미지를 검출하고, 검출된 라인 프로파일을 기초로 해당 측정 대상 물체의 라인광 단차값을 산출하는 제3 단계, 상기 형상측정단말에서 라인광 단차값에 대응되는 주기 특성을 갖는 격자 패턴이미지를 선택하여 패턴광 발생수단으로 제공하는 제4 단계, 상기 패턴광 발생수단에서 격자 패턴이미지를 이용하여 측정 대상 물체로 일정 주기의 격자 패턴광을 조사하는 제5 단계, 상기 촬영수단에서 격자 패턴광이 조사된 측정 대상 물체를 촬영하는 제6 단계 및, 상기 형상측정단말에서 상기 촬영수단으로부터 제공되는 촬영영상에서 격자 패턴광을 검출하고, 검출된 격자 패턴광으로부터 위상값을 산출함과 더불어, 산출된 위상값에 대응되는 높이값을 산출하는 제7 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

대표청구항 ▼

패턴광 발생수단에서 형상측정단말로부터 제공되는 라인 패턴이미지를 이용하여 측정 대상 물체로 라인 패턴광을 조사하는 제1 단계와,촬영수단에서 라인 패턴광이 조사된 측정 대상 물체를 촬영하는 제2 단계,형상측정단말에서 상기 촬영수단으로부터 제공되는 촬영영상에서 라인 패턴이미지를 검출하고, 검출된 라인 프로파일을 기초로 해당 측정 대상 물체의 라인광 단차값을 산출하는 제3 단계,상기 형상측정단말에서 산출된 라인광 단차값 중 가장 큰 라인광 단차값에 대응되는 주기의 격자 패턴이미지를 선택하여 패턴광 발생수단으로 제공하는 제4 단계,상기 패

패턴광 발생수단에서 형상측정단말로부터 제공되는 라인 패턴이미지를 이용하여 측정 대상 물체로 라인 패턴광을 조사하는 제1 단계와,촬영수단에서 라인 패턴광이 조사된 측정 대상 물체를 촬영하는 제2 단계,형상측정단말에서 상기 촬영수단으로부터 제공되는 촬영영상에서 라인 패턴이미지를 검출하고, 검출된 라인 프로파일을 기초로 해당 측정 대상 물체의 라인광 단차값을 산출하는 제3 단계,상기 형상측정단말에서 산출된 라인광 단차값 중 가장 큰 라인광 단차값에 대응되는 주기의 격자 패턴이미지를 선택하여 패턴광 발생수단으로 제공하는 제4 단계,상기 패턴광 발생수단에서 격자 패턴이미지를 이용하여 측정 대상 물체로 일정 주기의 격자 패턴광을 조사하는 제5 단계,상기 촬영수단에서 격자 패턴광이 조사된 측정 대상 물체를 촬영하는 제6 단계 및,상기 형상측정단말에서 상기 촬영수단으로부터 제공되는 촬영영상에서 격자 패턴광을 검출하고, 검출된 격자 패턴광으로부터 위상값을 산출함과 더불어, 산출된 위상값에 대응되는 높이값을 산출하는 제7 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정 방법.