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[한국특허] 이중층 게이트 절연막을 포함하는 박막 트랜지스터 및 이의 제조방법
Thin Film Transistor comprising double layer gate insulator and fabricating method thereof
원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-029/786
  • H01L-021/8234
출원번호 10-2015-0121445 (2015-08-28)
공개번호 10-2017-0025248 (2017-03-08)
DOI http://doi.org/10.8080/1020150121445
발명자 / 주소
  • 김명운 / 대전광역시 유성구 대덕대로 *** (도룡동, 로덴하우스아파트) ***동 ***호
  • 박만영 / 대전광역시 유성구 배울*로 ** (관평동, 신동아파밀리에) ***동 ****호
  • 정재경 / 서울특별시 강서구 화곡로**길 *** (화곡동, 화곡푸르지오) ***동 ***호
  • 도이미 / 대전광역시 유성구 배울*로 *** (용산동, 대덕테크노밸리**단지아파트) ****동 ***호
  • 김현관 / 세종특별자치시 만남로 *** (고운동, 가락마을 **단지) ****동 ***호
  • 오재원 / 대전광역시 서구 배재로 *** (도마동, 대아아파트) ***동 ****호
출원인 / 주소
  • (주)디엔에프 / 대전광역시 대덕구 대화로***번길 *** (대화동)
대리인 / 주소
  • 특허법인 플러스
심사청구여부 있음 (2015-08-28)
심사진행상태 거절결정(일반)
법적상태 거절

초록

본 발명은 구동 및 스위칭 동작을 수행하는 이중층 게이트형 박막 트랜지스터 및 이의 제조 방법에 관한 것으로, 저온의 습식 공정을 통해 제조된 이중층 게이트 절연막을 포함함으로써, 높은 이동도 뿐 아니라 향상된 서브문턱 게이트 스윙, 문턱 전압 및 전류의 온/오프 비율을 가지는 이중층 게이트형 박막 트랜지스터 및 이의 제조방법을 제공하는 것이다.

대표청구항

인듐(In), 아연(Zn), 주석(Sn), 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg), 하프늄(Hf), 갈륨(Ga) 및 타이타늄(Ti)에서 선택되는 하나 이상의 금속 산화물을 포함하는 활성층;상기 활성층 일면에 배치되는 실리콘 산화물을 포함하는 하부 게이트 절연막과 아연(Zn), 지르코늄(Zr), 하프늄(Hf), 알루미늄(Al), 타이타늄(Ti) 및 란터넘(La)에서 선택되는 하나 이상의 금속 산화물을 포함하고, 상기 하부 게이트 절연막의 상부에 배치되는 상부 게이트 절연막을 가지는 이중층 게이트 절연막;상기 이중층 게이트 절연막의 일면에

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. [한국] 전계 효과형 트랜지스터의 제조 방법 및 제조 장치 | 쿠라타, 타카오미, 키요타, 준야, 아라이, 마코토, 아카마츠, 야스히코, 아사리, 신, 하시모토, 마사노리, 사토, 시게미츠, 기쿠치, 마사시
  2. [한국] 액상 공정 산화물 박막의 제조 방법, 이를 이용한 전자 소자 및 박막 트랜지스터 | 김현재, 임유승, 신현수, 김시준
  3. [일본] METHOD OF REMOVING OH GROUP FROM SILICON OXIDE FILM | NISHIOKA KENSUKE, ITO TAKUYA
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