초록 ▼

본 발명은 펄스 적외선 열화상 기법을 이용한 박판의 결함깊이 측정방법에 관한 것으로서, 특히 펄스 적외선 열화상 기법을 이용한 박판의 결함깊이 측정방법은 뒷면에 결함이 있는 박판시편의 전면을 제논램프로 가열하는 단계와; 상기 제논램프로 가열되는 박판시편의 전면을 적외선 카메라로 촬영하는 단계와; 제어부가 상기 적외선 카메라에서 촬영한 영상을 전송받아 상기 박판시편 표면에 대한 콘트라스트(Contrast, 명암도) 값을 구한 후, 이 콘트라스트 값을 이용하여 결함의 깊이를 연산하는 단계;를 포함하여 구성되어, 3mm 이하의 박판시편에

본 발명은 펄스 적외선 열화상 기법을 이용한 박판의 결함깊이 측정방법에 관한 것으로서, 특히 펄스 적외선 열화상 기법을 이용한 박판의 결함깊이 측정방법은 뒷면에 결함이 있는 박판시편의 전면을 제논램프로 가열하는 단계와; 상기 제논램프로 가열되는 박판시편의 전면을 적외선 카메라로 촬영하는 단계와; 제어부가 상기 적외선 카메라에서 촬영한 영상을 전송받아 상기 박판시편 표면에 대한 콘트라스트(Contrast, 명암도) 값을 구한 후, 이 콘트라스트 값을 이용하여 결함의 깊이를 연산하는 단계;를 포함하여 구성되어, 3mm 이하의 박판시편에 형성된 결함의 깊이를 측정할 수 있는 효과가 있다.

대표청구항 ▼

뒷면에 결함이 있는 박판시편(S)의 전면을 암실에서 제논램프(10)로 가열하는 단계와; 상기 제논램프(10)로 가열되는 박판시편(S)의 전면을 암실에서 적외선 카메라(20)로 촬영하는 단계와; 제어부(50)가 상기 적외선 카메라(20)에서 촬영한 영상을 전송받아 상기 박판시편(S) 표면에 대한 콘트라스트(Contrast, 명암도) 값을 구한 후, 이 콘트라스트 값을 이용하여 결함의 깊이를 연산하는 단계;를 포함하여 구성되되,상기 결함의 깊이는 하기의 [식]을 통해 구하는 것을 특징으로 하는 펄스 적외선 열화상 기법을 이용한 박판의

뒷면에 결함이 있는 박판시편(S)의 전면을 암실에서 제논램프(10)로 가열하는 단계와; 상기 제논램프(10)로 가열되는 박판시편(S)의 전면을 암실에서 적외선 카메라(20)로 촬영하는 단계와; 제어부(50)가 상기 적외선 카메라(20)에서 촬영한 영상을 전송받아 상기 박판시편(S) 표면에 대한 콘트라스트(Contrast, 명암도) 값을 구한 후, 이 콘트라스트 값을 이용하여 결함의 깊이를 연산하는 단계;를 포함하여 구성되되,상기 결함의 깊이는 하기의 [식]을 통해 구하는 것을 특징으로 하는 펄스 적외선 열화상 기법을 이용한 박판의 결함깊이 측정방법.[식] d: 결함의 깊이k : 박판의 두께에 따라 변하는 상수(박판의 두께가 1mm일 때 0.1, 2mm일 때 0.2, 3mm일 때 0.28)D : 결함의 직경C : 콘트라스트 값α : 박판의 열전도도