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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2016-0001905 (2016-01-07) | |
등록번호 | 10-1746517-0000 (2017-06-07) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020160001905 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2016-01-07) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 리셉터의 사용없이 반응용액과의 침전반응에 의해 중금속 이온의 존부를 확인하고 다시 씻어내어 재사용이 가능한 중금속 이온 검출방법 및 검출센서에 관한 것으로서, 본 발명의 일 실시예에 따른 중금속 이온 검출방법은 금속 나노입자를 유전체 기판 표면에 부착하여 기판을 준비하는 과정, 상기 금속 나노입자의 국소표면플라즈몬공명에 의한 흡수파장을 측정하는 과정, 상기 기판 위에 검출하고자 하는 중금속 이온과 선택적으로 반응하여 침전물을 발생시키되, 반응 용액 자체만으로는 상기 금속 나노입자의 형태 및 표면 상태에 영향을 미치지 않는
금속 나노입자를 유전체 기판 표면에 부착하여 기판을 준비하는 과정;상기 금속 나노입자의 국소표면플라즈몬공명에 의한 흡수파장을 측정하는 과정;상기 기판 위에 검출하고자 하는 중금속 이온과 선택적으로 반응하여 침전물을 발생시키되, 반응 용액 자체만으로는 상기 금속 나노입자의 형태 및 표면 상태에 영향을 미치지 않는 반응용액을 도포하는 과정;상기 중금속 이온을 포함하는 시료를 상기 기판 위에 투입하여 상기 반응용액과 선택적으로 반응시켜 간단한 세척으로 제거 가능한 침전물을 상기 금속 나노입자의 표면에 부착하는 과정;상기 침전물이 표면에
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