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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2016-0059133 (2016-05-13) | |
등록번호 | 10-1751269-0000 (2017-06-21) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020160059133 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2016-05-13) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 반도체 테스트용 러버 소켓을 낮은 비용으로 제작하며, 도전성 폴의 정렬을 정밀하고 간편하게 수행할 수 있는 반도체 테스트용 러버 소켓에 관한 것이다.특히, 본 발명은 반도체 테스트용 러버 소켓의 도전성 폴에서 액상 절연체에 대한 도전성 파우더의 부피비 내지 비투자율을 상하부 상이하게 적용함에 따라 도전성 폴을 정렬시킬 때 종래기술에서 도전성 폴들 간의 척력 및 하판 자석의 자기력에 의해 도전성 폴의 상부가 휘는 현상을 방지할 수 있는 반도체 테스트용 러버 소켓에 관한 것이다.
피검사 디바이스인 반도체 패키지와 반도체 검사장비를 전기적으로 연결하기 위한 반도체 테스트용 러버 소켓으로서,바 형태의 약자성형 도전기둥부(110)와, 상기 약자성형 도전기둥부의 상단부에 연결되는 박막 형태의 강자성형 상부 도전박막부(120)와, 상기 강자성형 상부 도전박막부와 상호 대칭되도록 상기 약자성형 도전기둥부의 하단부에 연결되는 박막 형태의 강자성형 하부 도전박막부(130)를 구비하는 다수의 도전성 폴(100);외력에 소정 탄성을 갖는 전기적인 절연체로서 다수의 상기 도전성 폴이 끼워질 수 있도록 상하방향으로 관통하는 다수
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