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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록실용신안 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 20-2005-0011705 (2005-04-27) |
등록번호 | 20-0389307-0000 (2005-06-30) |
DOI | http://doi.org/10.8080/2020050011705 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사진행상태 | 설정등록의뢰 |
법적상태 | 소멸 |
본 고안은 테스트소켓용 접촉핀에 관한 것으로서, 본 고안에 따른 테스트소켓용 접촉핀은 테스트소켓이 결합되는 테스트보드와 상기 테스트소켓에 탑재되는 반도체칩패키지사이의 전기신호경로를 제공하기 위한 테스트소켓용 접촉핀에 있어서, 상기 반도체칩패키지 측 접촉영역에는 도전성 접촉강화층이 형성되어 있는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, 테스트소켓용 접촉핀과 테스트보드사이 또는 테스트소켓용 접촉핀과 반도체칩패키지사이의 접촉저항을 감소시킬 수 있다.
테스트소켓이 결합되는 테스트보드와 상기 테스트소켓에 탑재되는 반도체칩패키지사이의 전기신호경로를 제공하기 위한 테스트소켓용 접촉핀에 있어서,상기 반도체칩패키지 측 접촉영역에는 도전성 접촉강화층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트소켓용 접촉핀.
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