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연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
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수직 프로브 카드 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-001/073
  • G01R-001/067
  • G01R-031/28
출원번호 10-2016-0119515 (2016-09-19)
공개번호 10-2018-0031271 (2018-03-28)
등록번호 10-1859388-0000 (2018-05-14)
DOI http://doi.org/10.8080/1020160119515
발명자 / 주소
  • 주영훈 / 경기도 수원시 장안구 장안로 *** 이목동 STX KAN *단지아파트 ***-****호
출원인 / 주소
  • 피엠피(주) / 경기도 안양시 동안구 벌말로 *** ,****호(관양동)
대리인 / 주소
  • 이여진
심사청구여부 있음 (2016-09-19)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록 ▼

본 발명은 이탈 방지 구조를 가지는 수직 프로브 카드에 관한 것으로, 테스트 대상 디바이스와 검사 장치를 상하로 상호 접촉 연결하여 전기적 특성을 측정하는 수직 프로브 카드에 있어서, 상기 테스트 대상 디바이스의 상부 위치에 배치되어 있으며, 상기 테스트 대상 디바이스의 복수로 접촉되는 위치에 연통되도록 관통된 통공 형태의 복수의 하부 가이드 홀을 가지는 하부 플레이트; 상기 하부 플레이트의 상부에 떨어져 배치되어 있으며, 상기 검사 장치의 하부에 상부공극을 가지고, 상기 하부 플레이트의 상부에 하부공극을 가지는 위치에 수평으로 이

대표청구항 ▼

테스트 대상 디바이스 전기적 특성을 검사하는 수직 프로브 카드에 있어서,테스트 대상 디바이스의 접촉면에 대비되는 위치에 관통 형성되는 복수의 하부 가이드 홀을 가지는 하부 플레이트;상기 하부 플레이트의 상부에 이격되게 배치되고, 상기 하부 플레이트 상에 형성된 복수의 하부 가이드 홀과 대향되게 관통 형성되는 복수의 상부 가이드 홀을 가지는 상부 플레이트;상기 상부 가이드 홀 및 상기 하부 가이드 홀에 순차적으로 관통 삽입되고 상기 테스트 대상 디바이스에 접촉되어 전기적 신호를 송수신하는 프로브 팁; 및상기 상부 플레이트를 일측 방향

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. [미국] Probe Head Structure For Probe Test Cards | Dang, Son N., Back, Gerald W., Kazmi, Rehan
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이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 검사장치 | 박웅기
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