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[한국특허] 취학연령기 유아의 학교준비도 검사시스템 및 검사방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G06Q-050/20
  • G09B-005/14
  • G09B-007/06
출원번호 10-2016-0157058 (2016-11-24)
공개번호 10-2018-0058298 (2018-06-01)
DOI http://doi.org/10.8080/1020160157058
발명자 / 주소
  • 이창 / 서울특별시 강남구 개포로 ***, ***동 ***호(주공*단지)
  • 김경자 / 서울특별시 금천구 시흥대로 ***, ***동 ***호(시흥동, 남서울힐스테이스A)
  • 김혜주 / 서울특별시 금천구 금하로 ***, ***동 ****호(시흥동, 벽산*단지아파트)
출원인 / 주소
  • (주)카이맥스 / 서울시 구로구 디지털로 **길 **, ****(구로동, 우림이비지센타*차)
대리인 / 주소
  • 특허법인네이트
심사진행상태 취하(심사미청구)
법적상태 취하

초록

본 발명은 취학연령기 유아가 초등학교에 입학하기 전에 실시하여 해당 유아의 학문적인 수준뿐만 아니라 학교생활에 적응할 수 있는 신체적, 사회적 및 정서적 수준을 측정할 수 있도록 하는 취학연령기 유아의 학교준비도 검사시스템 및 검사방법을 제안한다. 상기 취학연령기 유아의 학교준비도 검사시스템은, 검사문항 저장부, 검사응답 수신부, 검사응답 분석부, 서비스 제공부 및 제어부를 포함하며, 상기 취학연령기 유아의 학교준비도 검사방법은, 검사문항 수집단계, 응답결과 수집단계, 응답결과 분석단계 및 응답결과 서비스단계를 수행한다.

대표청구항

취학연령기 유아가 응답한 복수의 검사문항에 대한 답을 수령하고, 수령한 답으로부터 해당 유아의 학교준비도를 검사하는 취학연령기 유아의 학교준비도 검사스템에 있어서, 유아교육전문가 그룹이 작성한 학습영역, 적응영역 및 발달영역에서 유아의 학교준비수준을 평가하기 위한 복수의 유아검사문항과 상기 유아검사문항의 채점 및 채점기준, 부모가 자신의 아이에 대해 평가하도록 하는 복수의 부모평가문항과 상기 부모평가문항의 채점을 저장하는 검사문항 저장부; 상기 복수의 유아검사문항에 대한 유아의 응답 및 상기 부모평가문항에 대한 부모의 응답을 수집하

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