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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2017-0017273 (2017-02-08) | |
등록번호 | 10-1764345-0000 (2017-07-27) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020170017273 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2017-02-08) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은, 디스플레이 모듈 전극 검사 장치와 이를 포함하는 검사 시스템 및 그 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 디스플레이 패널, 칩 온 필름(COF) 및 연성인쇄회로기판(FPCB)을 이방성 전도 필름을 사용하여 본딩한 디스플레이 모듈에 대하여 자동적으로 시각적 정렬검사 및 프로브를 통한 저항검사를 하나의 장치로 처리할 수 있는 디스플레이 모듈 전극 검사 장치와 이를 포함하는 검사 시스템 및 그 방법을 제공하는 것을 특징으로 한다.
디스플레이 모듈 전극 검사 장치에 있어서,다수의 부재가 연결된 프레임(501);상기 프레임의 일측면 상부에 구비되며, 상기 프레임의 일측면 중간부에 구비되어 상기 디스플레이 모듈이 놓이는 작업공간을 향하도록 위치한 제1카메라(503);상기 프레임의 일측면 하부에 구비되며, 상기 작업공간을 향하도록 위치한 제2카메라(504);상기 제1카메라 및 상기 제2카메라의 하부에 위치하여 상기 제1카메라 및 상기 제2카메라의 연직방향(Z축 방향) 위치를 조절하는 제1모터(505);상기 프레임의 일측면 중간부에 상기 작업공간 상부에 구비되며, 하
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