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디스플레이 모듈 전극 검사 장치와 이를 포함하는 검사 시스템 및 그 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G02F-001/13
  • G02F-001/1345
출원번호 10-2017-0017273 (2017-02-08)
등록번호 10-1764345-0000 (2017-07-27)
DOI http://doi.org/10.8080/1020170017273
발명자 / 주소
  • 김민수 / 충청남도 천안시 서북구 두정상가*길 **, ***호(두정동, 더리치빌*차)
  • 손영택 / 경기도 안성시 서운로 ***-*, ***동 ***호(중리동, 동광아파트)
  • 김선중 / 서울특별시 강남구 언주로**길 ** 삼성타워팰리스 F동 ****호
  • 이윤기 / 경기도 성남시 분당구 정자일로 *** 삼성아데나루체아파트 B동 ****호
  • 이성록 / 서울특별시 양천구 오목로 **-*, ***동 ***호
출원인 / 주소
  • 주식회사 디앤에이시스템 / 충청남도 천안시 서북구 직산읍 부송로 ***-** (*층,디앤에이시스템)
  • 주식회사 브이원텍 / 경기도 성남시 분당구 대왕판교로 ***, 에이-***(삼평동, 유스페이스*)
대리인 / 주소
  • 안재열
심사청구여부 있음 (2017-02-08)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은, 디스플레이 모듈 전극 검사 장치와 이를 포함하는 검사 시스템 및 그 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 디스플레이 패널, 칩 온 필름(COF) 및 연성인쇄회로기판(FPCB)을 이방성 전도 필름을 사용하여 본딩한 디스플레이 모듈에 대하여 자동적으로 시각적 정렬검사 및 프로브를 통한 저항검사를 하나의 장치로 처리할 수 있는 디스플레이 모듈 전극 검사 장치와 이를 포함하는 검사 시스템 및 그 방법을 제공하는 것을 특징으로 한다.

대표청구항

디스플레이 모듈 전극 검사 장치에 있어서,다수의 부재가 연결된 프레임(501);상기 프레임의 일측면 상부에 구비되며, 상기 프레임의 일측면 중간부에 구비되어 상기 디스플레이 모듈이 놓이는 작업공간을 향하도록 위치한 제1카메라(503);상기 프레임의 일측면 하부에 구비되며, 상기 작업공간을 향하도록 위치한 제2카메라(504);상기 제1카메라 및 상기 제2카메라의 하부에 위치하여 상기 제1카메라 및 상기 제2카메라의 연직방향(Z축 방향) 위치를 조절하는 제1모터(505);상기 프레임의 일측면 중간부에 상기 작업공간 상부에 구비되며, 하

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. [한국] 디스플레이 패널 검사장치 및 그 검사 방법 | 강진훈, 배진형, 김명환
  2. [한국] 패널의 자동 압흔 검사장치 | 김성민, 이청용, 조원우
  3. [일본] APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF CIRCUIT BOARD AS WELL AS ELECTRO-OPTICAL ELEMENT | YAMASHITA MUNEHIRO, KAITA MICHIO, NAKAGAWA YUTAKA, MURATA KOICHI
  4. [한국] 압착 품질 검사용 저항 측정 장치 및 이를 이용한 측정 방법 | 고윤덕, 이용희
  5. [한국] 박막 트랜지스터 기판 검사 장치 | 박정희, 박종현, 이재석
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