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자동 압흔 검사 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • G01N-021/88
출원번호 10-2006-0069813 (2006-07-25)
등록번호 10-0766394-0000 (2007-10-05)
DOI http://doi.org/10.8080/1020060069813
발명자 / 주소
  • 김선중 / 경기 용인시 수지구 동천동 써니벨리A ***동 ***호
출원인 / 주소
  • 주식회사 브이원텍 / 경기 성남시 분당구 수내동 **-* 오너스타워 ***호
대리인 / 주소
  • 김태욱 (KIM, Tae Wook)
  • 서울 서초구 서초*동 ****-* 번지 일광빌딩 *층 (법무법인정평국제특허부)
심사청구여부 있음 (2006-07-25)
심사진행상태 등록결정(취소환송후)
법적상태 소멸

초록

이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치가 개시된다. 본 발명은 평판 디스플레이 장치 모듈의 생산 공정의 일부인 Tape Automatic Bonding(TAB) 및 Chip On Glass(COG)/Film On Glass(FOG) 공정 이후에 패널과 자재의 접합 상태를 획득된 압흔 이미지를 통해 검사하는 장치에 관한 것으로, 진동에 의한 화상 떨림 방지를 위해 모든 광학계는 하부에서 상부를 바라보는 위치에 설치되고, 검사시간 단축을 위한 이중 검사대와 초점의 정확성 및 초점 조절 시간

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

발명자의 다른 특허 :

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. [한국] 압흔 검사장치 | 허민석, 손영탁, 정재호
  2. [한국] 압흔 검사 장치 및 방법 | 전용준, 백차흠
  3. [한국] 광학 검사 장치 | 이성남, 이상록, 최창식
  4. [한국] 압흔 검사 장치 및 검사 방법 | 유명수, 박기범
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