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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2017-0021864 (2017-02-17) | |
등록번호 | 10-1889824-0000 (2018-08-13) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020170021864 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2017-02-17) | |
심사진행상태 | 등록결정(재심사후) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명의 일 태양에 따른 R&D 품질 평가 방법은, R R&D 품질 검증 장치가, R&D의 품질을 평가하는 방법에 있어서, 상기 R&D 품질 검증 장치가, 사용자의 단말로부터 상품의 부품 사양(Components Characteristic)과 품질 특성(Engineering Characteristic)을 입력 받는 단계와 상기 R&D 품질 검증 장치가, 상기 사용자의 단말로부터 상기 상품과 경쟁 관계에 있는 경쟁 상품에 관한 정보를 입력 받는 단계와 상기 R&D 품질 검증 장치가, 상기
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