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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2017-0127685 (2017-09-29) | |
공개번호 | 10-2019-0037889 (2019-04-08) | |
등록번호 | 10-1995396-0000 (2019-06-26) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020170127685 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2017-09-29) | |
심사진행상태 | 등록결정(재심사후) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명의 일 실시예에 따르면, 제품 결함 검출 시스템에서 제품의 결함을 자동으로 검출하기 위한 방법에 있어서, (a) 샘플 이미지의 R채널, G채널 및 B채널 중 적어도 둘 이상에서 샘플값을 추출하고, 정답 이미지의 C채널에서 참조값을 추출하는 단계; (b) 상기 샘플 이미지와 정답 이미지를 결합하여, 상기 샘플값 및 참조값을 통해 학습 이미지를 생성하는 단계; 및 (c) 상기 학습 이미지를 통해 딥러닝 학습이 수행되도록 제어하는 단계를 포함하는, 제품 결함 검출 방법이 제공된다.
제품 결함 검출 시스템에서 제품의 결함을 자동으로 검출하기 위한 방법에 있어서,CAD 이미지에서 불량 후보 영역이 정가운데 위치하는 패턴 이미지를 추출하고, 상기 CAD 이미지가 확대되어 밝게 변환된 Bright 이미지와 상기 CAD 이미지가 확대되어 어둡게 변환된 Dark 이미지에서 불량 후보 영역이 정가운데 위치하는 매칭 이미지를 추출하는데, 상기 Bright 이미지 및 상기 Dark 이미지에서 패턴을 이용한 매칭을 수행하여, 패턴 매칭 점수가 임계치 이상인지 판단하고, 이미지의 중앙에서 멀어진 정도인 distance가 임계치
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