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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2018-0080510 (2018-07-11) | |
공개번호 | 10-2020-0006755 (2020-01-21) | |
등록번호 | 10-2074471-0000 (2020-01-31) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020180080510 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2018-07-11) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명에 따른 형광 표준 스트립은 분석기기에 사용되는 형광 스트립의 형광 세기에 대한 신뢰성을 검증하기 위한 것으로, 형광체가 사용되는 기기에 있어 형광 세기에 대한 기기 간 편차를 줄이고, 형광 농도별 형광 신호의 선형성을 확보하며, 기기의 오류, 오차, 편차 등을 주기적으로 체크하여 기기의 신뢰성을 검증할 수 있는 효과가 있다. 또한 본 발명에 따른 형광 표준 스트립은 광 조사가 빈번한 환경 및 상태에서도 시간에 따른 형광 세기의 감소를 최소화할 수 있는, 즉, 동일한 형광 세기를 장기간 유지할 수 있는 효과가 있다.
분석기기에 사용되는 형광 스트립의 형광 세기에 대한 신뢰성을 검증하기 위한 형광 표준 스트립으로,상기 형광 표준 스트립은,기재;상기 기재 상에 적층되고 형광체를 포함하는 형광층; 및상기 형광층 상에 적층되어, 형광층으로부터 외부로 노출되는 형광을 일부 차단하는 마스킹층;을 포함하며,상기 형광 표준 스트립의 형광체에 대한 형광 세기가 검증 대상인 형광 스트립의 형광체에 대한 형광 세기보다 높은 것을 특징으로 하는 형광 표준 스트립.
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