$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

SPAD 이미지 센서 및 연관 제조 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-027/146
  • H01L-031/0236
  • H01L-031/107
출원번호 10-2018-0113193 (2018-09-20)
공개번호 10-2019-0038353 (2019-04-08)
등록번호 10-2204728-0000 (2021-01-13)
우선권정보 미국(US) 62/566,161 (2017-09-29);미국(US) 15/896,579 (2018-02-14)
DOI http://doi.org/10.8080/1020180113193
발명자 / 주소
  • 야마시타 유이치로 / 중화민국, 타이완, 신추, 신추 사이언스 파크, 리-신 로드 *, 넘버 *
출원인 / 주소
  • 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 / 중화민국, 타이완, 신추, 신추 사이언스 파크, 리-신 로드 *, 넘버 *
대리인 / 주소
  • 김태홍; 김진회
심사청구여부 있음 (2018-09-20)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

단광자 애벌런치 다이오드(SPAD, single photon avalanche diode) 이미지 센서가 개시된다. SPAD 이미지 센서는, 전면(front surface)과 후면(back surface)을 갖고, 감지 영역을 포함하는 기판으로서, 상기 감지 영역은 제1 전도성 타입의 도펀트로 고농도로 도핑되는 공통 노드를 포함하고, 상기 공통 노드는 상기 기판 내에서 상기 기판의 후면에 접하는 것인 상기 기판과, 상기 제1 전도성 타입과 반대의 제2 전도성 타입의 도펀트로 고농도로 도핑되며, 상기 기판 내에서 상기 기판의 전면에

대표청구항

단광자 애벌런치 다이오드(SPAD, single photon avalanche diode) 이미지 센서에 있어서,전면(front surface)과 후면(back surface)을 갖고, 감지 영역을 포함하는 기판을 포함하고, 상기 감지 영역은,제1 전도성 타입의 도펀트로 고농도로 도핑되는 공통 노드 - 상기 공통 노드는 상기 기판 내에서 상기 기판의 후면에 접함 - 와, 상기 제1 전도성 타입과 반대의 제2 전도성 타입의 도펀트로 고농도로 도핑되며, 상기 기판 내에서 상기 기판의 전면에 접하는 감지 노드와, 상기 제1 전도성 타입의

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. [한국] 바이어스된 깊은 트렌치 격리부를 갖는 개선된 광자 검출 디바이스 | 장 보웨이, 린 지퀴앙
  2. [미국] SINGLE PHOTON AVALANCHE DIODE IMAGING SENSOR FOR COMPLEMENTARY METAL OXIDE SEMICONDUCTOR STACKED CHIP APPLICATIONS | Webster, Eric A. G.
  3. [미국] STACKED SPAD IMAGE SENSOR | Yang, Ming-Hsien, Wang, Ching-Chun, Yaung, Dun-Nian, Hung, Feng-Chi, Ting, Shyh-Fann, Chen, Chun-Yuan
  4. [미국] BACK SIDE ILLUMINATED SINGLE PHOTON AVALANCHE DIODE IMAGING SENSOR WITH HIGH SHORT WAVELENGTH DETECTION EFFICIENCY | Webster, Eric A. G.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로