정대성
/ 경상북도 포항시 남구 청암로 **, 공학*동 ***호 (지곡동, 포항공과대학교)
강민호
/ 서울특별시 관악구 관악로**길 **, ***호 (봉천동, 젤존하우스)
출원인 / 주소
삼성전자주식회사 / 경기도 수원시 영통구 삼성로 *** (매탄동)
대리인 / 주소
특허법인가산
심사청구여부
있음 (2021-08-26)
심사진행상태
등록결정(일반)
법적상태
등록
초록▼
피검사체의 국부 영역의 정전기 값을 측정하기 위한 비접촉식 정전기 측정 장치 및 비접촉식 정전기 측정 방법이 제공된다. 비접촉식 정전기 측정 장치는, 개구부를 포함하는 케이스, 상기 케이스 내에 배치되고, 상기 개구부에 정렬되어 피검사체의 제1 영역의 정전기 값을 측정하는 필드 측정부, 및 상기 케이스의 외부에 배치되고, 상기 필드 측정부의 정전기 측정 영역을 상기 제1 영역보다 작은 제2 영역으로 제한하는 필드 제한부를 포함한다.비접촉 정전기 측정 방법은 필드 측정부에 의해, 제1 영역의 정전기 값을 측정하되, 상기 제1 영역은
피검사체의 국부 영역의 정전기 값을 측정하기 위한 비접촉식 정전기 측정 장치 및 비접촉식 정전기 측정 방법이 제공된다. 비접촉식 정전기 측정 장치는, 개구부를 포함하는 케이스, 상기 케이스 내에 배치되고, 상기 개구부에 정렬되어 피검사체의 제1 영역의 정전기 값을 측정하는 필드 측정부, 및 상기 케이스의 외부에 배치되고, 상기 필드 측정부의 정전기 측정 영역을 상기 제1 영역보다 작은 제2 영역으로 제한하는 필드 제한부를 포함한다.비접촉 정전기 측정 방법은 필드 측정부에 의해, 제1 영역의 정전기 값을 측정하되, 상기 제1 영역은 코어 영역과, 상기 코어 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하고, 필드 제한부에 의해, 상기 필드 측정부의 정전기 측정 영역을 상기 제1 영역보다 작은 제2 영역으로 제한하되, 상기 제2 영역은 상기 주변 영역이고, 필드 측정부에 의해, 상기 제2 영역의 정전기 값을 측정하고, 필드 연산부에 의해, 상기 제1 영역의 정전기 값 및 상기 제2 영역의 정전기 값에 기초하여, 상기 코어 영역의 정전기 값을 연산한다.
대표청구항▼
개구부를 포함하는 케이스;상기 케이스 내에 배치되고, 상기 개구부에 정렬되어 피검사체의 제1 영역의 정전기 값을 측정하는 필드 측정부; 및상기 케이스의 외부에 배치되고, 상기 필드 측정부의 정전기 측정 영역을 상기 제1 영역보다 작은 제2 영역으로 제한하는 필드 제한부를 포함하되,상기 필드 제한부는,상기 정전기 측정 영역을 제한하는 필드 가림부와,상기 케이스에 분리 가능하게 장착되는 탈부착부와,상기 필드 가림부와 상기 탈부착부를 연결하는 연결부를 포함하되,상기 탈부착부에 대한 상기 필드 가림부의 위치는 변경 가능한, 비접촉식 정전기
개구부를 포함하는 케이스;상기 케이스 내에 배치되고, 상기 개구부에 정렬되어 피검사체의 제1 영역의 정전기 값을 측정하는 필드 측정부; 및상기 케이스의 외부에 배치되고, 상기 필드 측정부의 정전기 측정 영역을 상기 제1 영역보다 작은 제2 영역으로 제한하는 필드 제한부를 포함하되,상기 필드 제한부는,상기 정전기 측정 영역을 제한하는 필드 가림부와,상기 케이스에 분리 가능하게 장착되는 탈부착부와,상기 필드 가림부와 상기 탈부착부를 연결하는 연결부를 포함하되,상기 탈부착부에 대한 상기 필드 가림부의 위치는 변경 가능한, 비접촉식 정전기 측정 장치.
발명자의 다른 특허 :
연구과제 타임라인
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이 특허에 인용된 특허 (2)
[일본]
SURFACE POTENTIAL DISTRIBUTION MEASURING DEVICE, LATENT IMAGE CARRIER, AND IMAGE FORMING DEVICE |
SUHARA HIROYUKI
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