초록 ▼

본 발명은 반도체 소자의 테스트에 사용하는 듀얼 핀치 타입(dual pinch type)의 BGA 소켓장치에 관한 것으로, 서로 대향하여 구비되는 한 쌍의 고정측 단자(110)와 가동측 단자(120)를 포함하되, 상기 고정측 단자(110)와 상기 가동측 단자(120)의 각 상측첨단부(111)(122)는 볼 단자(2)를 중심으로 하여 일정 간격 오프셋(d)되어 구비되는 콘택트(100)와; 상기 콘택트(100)가 수직하게 구비되어 고정되는 메인 몸체부(210)와; 상기 메인 몸체부(210)의 상부에서 탄성 지지되어 상기 메인 몸체부(2

본 발명은 반도체 소자의 테스트에 사용하는 듀얼 핀치 타입(dual pinch type)의 BGA 소켓장치에 관한 것으로, 서로 대향하여 구비되는 한 쌍의 고정측 단자(110)와 가동측 단자(120)를 포함하되, 상기 고정측 단자(110)와 상기 가동측 단자(120)의 각 상측첨단부(111)(122)는 볼 단자(2)를 중심으로 하여 일정 간격 오프셋(d)되어 구비되는 콘택트(100)와; 상기 콘택트(100)가 수직하게 구비되어 고정되는 메인 몸체부(210)와; 상기 메인 몸체부(210)의 상부에서 탄성 지지되어 상기 메인 몸체부(210)에 대해 일정 높이의 범위 내에서 상하 이동 가능하게 구비되는 커버(230)와; 상기 메인 몸체부(210)와 상기 커버(230) 사이에 구비되어 상기 커버(230)의 상하 위치와 연동되어 좌우 슬라이딩이 이루어져 상기 가동측 단자(120)를 수평 방향으로 개폐 조작하며, 상기 고정측 단자(110)가 관통 위치하게 되는 고정측 단자 수용공(245)과 상기 가동측 단자(120)가 관통 위치하게 되는 가동측 단자 수용공(246)이 형성되되, 상기 고정측 단자 수용공(245)과 상기 가동측 단자 수용공(246)은 상기 콘택트의 상측첨단부(111)(122) 사이의 오프셋(d) 만큼 오프셋(d)되고 상기 고정측 단자 수용공은 상기 가동측 단자 수용공 보다 길이가 더 긴 슬라이더(240)를 포함한다.

대표청구항 ▼

서로 대향하여 구비되는 한 쌍의 고정측 단자와 가동측 단자를 포함하되, 상기 고정측 단자와 상기 가동측 단자의 각 상측첨단부는 볼 단자를 중심으로 하여 일정 간격 오프셋(d)되어 구비되는 콘택트와; 상기 콘택트가 수직하게 구비되어 고정되는 메인 몸체부와; 상기 메인 몸체부의 상부에서 탄성 지지되어 상기 메인 몸체부에 대해 일정 높이의 범위 내에서 상하 이동 가능하게 구비되는 커버와;상기 메인 몸체부와 상기 커버 사이에 구비되어 상기 커버의 상하 위치와 연동되어 좌우 슬라이딩이 이루어져 상기 가동측 단자를 수평 방향으로 개폐 조작하며

서로 대향하여 구비되는 한 쌍의 고정측 단자와 가동측 단자를 포함하되, 상기 고정측 단자와 상기 가동측 단자의 각 상측첨단부는 볼 단자를 중심으로 하여 일정 간격 오프셋(d)되어 구비되는 콘택트와; 상기 콘택트가 수직하게 구비되어 고정되는 메인 몸체부와; 상기 메인 몸체부의 상부에서 탄성 지지되어 상기 메인 몸체부에 대해 일정 높이의 범위 내에서 상하 이동 가능하게 구비되는 커버와;상기 메인 몸체부와 상기 커버 사이에 구비되어 상기 커버의 상하 위치와 연동되어 좌우 슬라이딩이 이루어져 상기 가동측 단자를 수평 방향으로 개폐 조작하며, 상기 고정측 단자가 관통 위치하게 되는 고정측 단자 수용공과 상기 가동측 단자가 관통 위치하게 되는 가동측 단자 수용공이 형성되되, 상기 고정측 단자 수용공과 상기 가동측 단자 수용공은 상기 콘택트의 상측첨단부 사이의 오프셋(d) 만큼 오프셋(d)되고 상기 고정측 단자 수용공은 상기 가동측 단자 수용공 보다 길이가 더 긴 슬라이더를 포함하는 반도체 소자 테스트용 BGA 소켓장치.