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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2019-0105421 (2019-08-27) | |
공개번호 | 10-2021-0025409 (2021-03-09) | |
등록번호 | 10-2354378-0000 (2022-01-18) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020190105421 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2019-08-27) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 반도체 공정에서 질화티탄막을 식각하여 제거하는 데 사용되는 것으로, 본 발명에 따른 질화티탄막을 선택적으로 식각하는 질화티탄막 식각용 조성물은 과산화수소, 질화티탄막 식각 가속제로 아민계 화합물, 텅스텐막 식각 억제제로 이미노 화합물을 포함한다.본 발명에 따른 질화티탄막의 식각용 조성물은 과산화수소 안정성을 유지하여 고온 발열 및 급격한 조성 변화가 없고, 질화티탄막과 텅스텐막 중 텅스텐막 식각속도 대비 질화티탄막 식각속도가 높은 선택비로 식각한다.
과산화수소, 질화티탄막 식각 가속제로 아민계 화합물, 텅스텐막 식각 억제제로 이미노 화합물을 포함하여 텅스텐막 대비 질화티탄막을 선택적으로 식각하는 것으로, 총 중량 100 대비, 과산화수소 99.94~99.96 wt%, 아민계 화합물 0.01~0.05 wt%, 이미노 화합물 0.0075~0.05 wt%를 포함하는 것을 특징으로 하는 질화티탄막의 식각용 조성물. 질화티탄막의 식각용 조성물.
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