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| 국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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| 국제특허분류(IPC8판) |
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| 출원번호 | 10-2019-0158971 (2019-12-03) | |
| 공개번호 | 10-2021-0069315 (2021-06-11) | |
| 등록번호 | 10-2327269-0000 (2021-11-11) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020190158971 | |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사청구여부 | 있음 (2019-12-03) | |
| 심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
| 법적상태 | 등록 |
본 발명은 고분자 분자량 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것이다. 상기 고분자 분자량 측정 장치는 산화환원종을 포함하는 반응 용액 및 고분자 시료가 포함되는 반응부, 반응부 내에 위치하며, 상대전극, 기준전극 및 작업전극을 포함하는 전극부 및 상기 전극부의 작업전극의 표면에 상기 산화환원종이 충돌 또는 흡착시 발생하는 전류의 세기를 측정하는 측정부를 포함한다. 본 발명에 의하면, 적은 양의 고분자 시료이더라도 전기화학적 방법을 통해 신속하고 정확하게 고분자의 분자량 및 합성 정도를 측정할 수 있다.
산화환원종을 포함하는 반응 용액 및 고분자 시료가 포함되는 반응부;상기 반응부 내에 위치하며, 상대전극, 기준전극 및 작업전극을 포함하는 전극부;상기 전극부의 작업전극의 표면에 상기 산화환원종이 충돌 또는 흡착시 발생하는 전류의 세기를 측정하는 측정부; 및상기 측정부에서 측정한 전류의 세기 변화를 통하여 상기 반응부 내의 상기 반응 용액의 점도를 구하는 연산부를 포함하는, 고분자 분자량 측정 장치.
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