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연합인증

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양극재 분석 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01N-005/04
  • H01M-004/485
  • H01M-004/505
  • H01M-004/525
  • H01M-004/58
출원번호 10-2020-0006123 (2020-01-16)
공개번호 10-2020-0090125 (2020-07-28)
우선권정보 대한민국(KR) 1020190006879 (2019-01-18)
DOI http://doi.org/10.8080/1020200006123
발명자 / 주소
  • 임미라 / 대전광역시 유성구 문지로 *** LG화학 기술연구원
  • 김성학 / 대전광역시 유성구 문지로 *** LG화학 기술연구원
  • 정민환 / 대전광역시 유성구 문지로 *** LG화학 기술연구원
  • 김현주 / 대전광역시 유성구 문지로 *** LG화학 기술연구원
출원인 / 주소
  • 주식회사 엘지화학 / 서울특별시 영등포구 여의대로 *** (여의도동)
대리인 / 주소
  • 김애라
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 공개

초록

본 발명은 양극재의 분석방법을 제공하며, 상기 방법은 1) 양극재 시료를 염산으로 전처리한 후 염산-처리된 시료에 물을 첨가하여 희석하는 단계; 2) 상기 염산-처리된 양극재 시료의 희석액에 암모늄 설파이드 용액을 적가하여 침전물을 생성시키는 단계; 3) 상기 단계 2)에서 수득된 용액로부터 침전물을 제거하고 여액을 취하는 단계; 4) 상기 여액의 일부 또는 전체에 황산을 첨가하여 황산 리튬 및 황산 암모늄을 수득하고, 가열 건조하여 황산 암모늄을 제거하는 단계; 5) 상기 단계 4)에서 남은 황산 리튬의 무게를 측정하는 단계; 및

대표청구항

전지의 양극재에 존재하는 리튬(Li)의 함량을 분석하는 방법으로,1) 양극재 시료를 염산으로 전처리한 후 염산-처리된 시료에 물을 첨가하여 희석하는 단계;2) 상기 염산-처리된 양극재 시료의 희석액에 암모늄 설파이드 용액을 적가하여 침전물을 생성시키는 단계;3) 상기 단계 2)에서 수득된 용액로부터 침전물을 제거하고 여액을 취하는 단계;4) 상기 여액의 일부 또는 전체에 황산을 첨가하여 황산 리튬 및 황산 암모늄을 수득하고, 가열 건조하여 황산 암모늄을 제거하는 단계;5) 상기 단계 4)에서 남은 황산 리튬의 무게를 측정하는 단계;

발명자의 다른 특허 :

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