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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0045913 (2020-04-16) | |
공개번호 | 10-2021-0128128 (2021-10-26) | |
등록번호 | 10-2321729-0000 (2021-10-29) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200045913 | |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2020-04-16) | |
심사진행상태 | 등록결정(재심사후) | |
법적상태 | 등록 |
반도체층 제조방법이 제공된다. 상기 반도체층 제조방법은, 기판을 준비하는 단계, 및 인듐(In)을 포함하는 제1 전구체 및 제1 반응 소스를 반응시키는 제1 유닛 공정(first unit process), 갈륨(Ga)을 포함하는 제2 전구체 및 제2 반응 소스를 반응시키는 제2 유닛 공정(second unit process)을 수행하여, 상기 기판 상에 상기 인듐 및 상기 갈륨을 포함하는 반도체층을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.
기판을 준비하는 단계; 및인듐(In)을 포함하는 제1 전구체 및 제1 반응 소스를 반응시키는 제1 유닛 공정(first unit process), 갈륨(Ga)을 포함하는 제2 전구체 및 제2 반응 소스를 반응시키는 제2 유닛 공정(second unit process)을 수행하여, 상기 기판 상에 상기 인듐 및 상기 갈륨을 포함하는 반도체층을 형성하는 단계를 포함하되,상기 제1 전구체는 아래의 <화학식 1>로 표현되는 화합물을 포함하고, 상기 제2 전구체는 아래의 <화학식 2>로 표현되는 화합물을 포함하는 반도체
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