초록 ▼

본 발명의 실시예는 경사입사 또는 표면파 비선형 파라미터 측정시 영향을 미칠 수 있는 사항들을 고려하여 피측정물과 탐촉자의 접촉을 정밀하게 조절할 수 있으며, 초음파 경사 입사 또는 표면파 비선형 파라미터의 정밀한 측정을 구현함으로써 비선형 파라미터 측정 신뢰도를 높일 수 있는 초음파 비선형 파라미터 정밀 측정장치를 제공하기 위한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 초음파 비선형 파라미터 정밀 측정장치는 피측정물이 위치하는 베이스부의 일측에서 높이 방향으로 길게 구비되는 가이드 지지부, 피측정물에 일측이 접촉되어 초음파를 송수신하는

본 발명의 실시예는 경사입사 또는 표면파 비선형 파라미터 측정시 영향을 미칠 수 있는 사항들을 고려하여 피측정물과 탐촉자의 접촉을 정밀하게 조절할 수 있으며, 초음파 경사 입사 또는 표면파 비선형 파라미터의 정밀한 측정을 구현함으로써 비선형 파라미터 측정 신뢰도를 높일 수 있는 초음파 비선형 파라미터 정밀 측정장치를 제공하기 위한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 초음파 비선형 파라미터 정밀 측정장치는 피측정물이 위치하는 베이스부의 일측에서 높이 방향으로 길게 구비되는 가이드 지지부, 피측정물에 일측이 접촉되어 초음파를 송수신하는 탐촉자를 포함하며, 탐촉자가 피측정물에 전파되는 초음파의 전파경로에 일치하도록 탐촉자의 위치 이동을 지지하여 피측정물에 기설정된 압력을 제공하는 탐촉자 조절부, 가이드 지지부에 일측이 이동 조절되도록 결합되며, 타측이 탐촉자 조절부에 결합되어 외력의 전달에 따라 가이드 지지부의 높이 방향 이동을 조절하는 높이 조절부, 그리고 베이스부에 일측이 결합되며, 타측이 탐촉자 조절부에 위치하여 외력의 전달에 따라 탐촉자 조절부의 높이 방향 이동을 미세 조절하는 미세 조절부를 포함한다.

대표청구항 ▼

피측정물이 위치하는 베이스부의 일측에서 높이 방향으로 길게 구비되는 가이드 지지부,상기 피측정물에 일측이 접촉되어 초음파를 송수신하는 탐촉자를 포함하며, 상기 탐촉자가 상기 피측정물에 전파되는 초음파의 전파경로에 일치하도록 상기 탐촉자의 위치 이동을 지지하여 상기 피측정물에 기설정된 압력을 제공하는 탐촉자 조절부,상기 가이드 지지부에 일측이 이동 조절되도록 결합되며, 타측이 상기 탐촉자 조절부에 결합되어 외력의 전달에 따라 상기 가이드 지지부의 높이 방향 이동을 조절하는 높이 조절부, 그리고상기 베이스부에 일측이 결합되며, 타측이

피측정물이 위치하는 베이스부의 일측에서 높이 방향으로 길게 구비되는 가이드 지지부,상기 피측정물에 일측이 접촉되어 초음파를 송수신하는 탐촉자를 포함하며, 상기 탐촉자가 상기 피측정물에 전파되는 초음파의 전파경로에 일치하도록 상기 탐촉자의 위치 이동을 지지하여 상기 피측정물에 기설정된 압력을 제공하는 탐촉자 조절부,상기 가이드 지지부에 일측이 이동 조절되도록 결합되며, 타측이 상기 탐촉자 조절부에 결합되어 외력의 전달에 따라 상기 가이드 지지부의 높이 방향 이동을 조절하는 높이 조절부, 그리고상기 베이스부에 일측이 결합되며, 타측이 상기 탐촉자 조절부에 위치하여 외력의 전달에 따라 상기 탐촉자 조절부의 높이 방향 이동을 미세 조절하는 미세 조절부를 포함하며,상기 탐촉자 조절부는상기 피측정물의 상면 일측에 접촉되는 제1 탐촉자의 위치 이동을 지지하는 제1 탐촉자 조절부, 그리고상기 제1 탐촉자 조절부와 이격된 위치에서 상기 제1 탐촉자 조절부와 별도로 구비되어 상기 피측정물의 상면 타측에 접촉되는 제2 탐촉자의 위치 이동을 지지하는 제2 탐촉자 조절부를 포함하는 초음파 비선형 파라미터 정밀 측정장치.