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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0120074 (2020-09-17) | |
공개번호 | 10-2022-0037296 (2022-03-24) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200120074 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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법적상태 | 공개 |
본 발명은 CT 분석용 셀 지그 및 이를 이용한 전지 셀 CT 분석 방법에 관한 것으로, 분석 과정에서 전지 셀의 손상 및 간섭 현상을 방지하고 다양한 각도에서 효과적인 분석이 가능하다.
내부에 전지 셀이 수납되는 셀 수납부를 포함하되, 일면이 개방된 구조의 지그 바디; 및지그 바디의 개방면을 덮는 지그 커버; 를 포함하며,상기 셀 수납부는 전지 셀의 형상에 따라 노칭(Notching)된 구조인 것을 특징으로 하는 CT 분석용 셀 지그.
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