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| 국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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| 국제특허분류(IPC8판) |
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| 출원번호 | 10-2020-0131051 (2020-10-12) | |
| 공개번호 | 10-2022-0048191 (2022-04-19) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020200131051 | |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 법적상태 | 공개 |
본 발명은, 양극 활물질 분말을 주사전자현미경 분석하여 SEM 이미지를 얻는 제1단계; 컴퓨터 영상처리 기법을 이용하여 상기 SEM 이미지에서 개별 양극 활물질 입자의 경계(edge)를 제거한 다음, 개별 양극 활물질 입자의 윤곽(contour)을 검출하여 개별 양극 활물질 입자 단위로 세그멘테이션된 이미지를 수득하는 제2단계; 및상기 세그멘테이션된 이미지로부터 양극 활물질의 형상과 관련된 정보를 수득하는 제3단계를 포함하는 양극 활물질의 형상 분석 방법에 관한 것이다.
양극 활물질 분말을 주사전자현미경 분석하여 SEM 이미지를 얻는 제1단계;컴퓨터 영상처리 기법을 이용하여 상기 SEM 이미지에서 개별 양극 활물질 입자의 경계(edge)를 제거한 다음, 개별 양극 활물질 입자의 윤곽(contour)을 검출하여 개별 양극 활물질 입자 단위로 세그멘테이션된 이미지를 수득하는 제2단계; 및상기 세그멘테이션된 이미지로부터 양극 활물질의 형상과 관련된 정보를 수득하는 제3단계를 포함하는 양극 활물질의 형상 분석 방법.
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