초록 ▼

원자힘 현미경(Atomic Force Microscopy; AFM) 측정들을 수행하는 방법은, 초음파 트랜스듀서(ultrasound transducer)를 사용하여, 1 GHz를 초과하는 주파수로 변조된 초음파들을 샘플의 하단 표면으로부터 샘플을 통해 초음파 트랜스듀서로부터 샘플의 상단 표면으로 전송한다. 초음파 스캐터링(scattering)의 영향들은 샘플의 상단 표면에서 AFM 캔틸레버(cantilever)의 진동들로부터 검출된다. 측정들의 시작 전에, 액체 방울이 초음파 트랜스듀서의 상단 표면에 위치한다. 샘플은 초음파 트랜스

원자힘 현미경(Atomic Force Microscopy; AFM) 측정들을 수행하는 방법은, 초음파 트랜스듀서(ultrasound transducer)를 사용하여, 1 GHz를 초과하는 주파수로 변조된 초음파들을 샘플의 하단 표면으로부터 샘플을 통해 초음파 트랜스듀서로부터 샘플의 상단 표면으로 전송한다. 초음파 스캐터링(scattering)의 영향들은 샘플의 상단 표면에서 AFM 캔틸레버(cantilever)의 진동들로부터 검출된다. 측정들의 시작 전에, 액체 방울이 초음파 트랜스듀서의 상단 표면에 위치한다. 샘플은 초음파 트랜스듀서의 상단 표면에 위치되고, 이로써 샘플이 액체 방울을 초음파 트랜스듀서의 상단 표면과 샘플의 하단 표면 사이의 액체 층으로 가압한다. 액체 층의 두께가 안정된 후에, AFM 측정들이 시작된다.

대표청구항 ▼

원자힘 현미경(Atomic Force Microscopy; AFM) 측정들을 수행하는 방법에 있어서, 상기 방법은,초음파 트랜스듀서(transducer)를 제공하는 단계;상기 초음파 트랜스듀서의 상단 표면 상에 액체 방울(drop)을 위치시키는 단계; 상기 초음파 트랜스듀서의 상기 상단 표면에 샘플을 위치시키는 단계 - 이로써, 상기 샘플이 상기 방울 내의 액체를 상기 초음파 트랜스듀서의 상단 표면과 상기 샘플의 하단 표면 사이의 액체 층으로 가압함 -;상기 샘플의 하단 표면으로부터 상기 샘플의 상단 표면으로의 상기 샘플을 통해,

원자힘 현미경(Atomic Force Microscopy; AFM) 측정들을 수행하는 방법에 있어서, 상기 방법은,초음파 트랜스듀서(transducer)를 제공하는 단계;상기 초음파 트랜스듀서의 상단 표면 상에 액체 방울(drop)을 위치시키는 단계; 상기 초음파 트랜스듀서의 상기 상단 표면에 샘플을 위치시키는 단계 - 이로써, 상기 샘플이 상기 방울 내의 액체를 상기 초음파 트랜스듀서의 상단 표면과 상기 샘플의 하단 표면 사이의 액체 층으로 가압함 -;상기 샘플의 하단 표면으로부터 상기 샘플의 상단 표면으로의 상기 샘플을 통해, 상기 초음파 트랜스듀서로부터 상기 샘플의 상단 표면으로 변조된 초음파들을 전송하는 단계; 상기 액체 층의 두께가 안정된 후에, 캔틸레버(cantilever)의 프로브 팁(probe tip)이 상기 샘플의 상단 표면과 접촉하는 동안, 상기 변조된 초음파들에 의해 여기되는 상기 캔틸레버의 진동들의 측정들을 수행하는 단계를 포함하는, 방법.