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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2021-0052229 (2021-04-22) | |
공개번호 | 10-2022-0145976 (2022-11-01) | |
등록번호 | 10-2560351-0000 (2023-07-24) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020210052229 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2021-04-22) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 구조광을 이용한 3차원 형상 측정장치에 관한 것이다. 프로젝터는 대상물의 표면에 구조광을 조사한다. 카메라는 프로젝터에 의해 대상물의 표면에 구조광이 조사된 상태에서 대상물의 표면으로부터 반사되는 영상을 획득한다. 광센서는 주변광의 밝기를 측정한다. 컨트롤러는 광센서로부터 측정된 주변광 밝기 정보를 기반으로, 카메라에 의해 획득된 영상의 밝기를 보정한다.
대상물의 표면에 구조광을 조사하는 프로젝터;상기 프로젝터에 의해 대상물의 표면에 구조광이 조사된 상태에서 대상물의 표면으로부터 반사되는 영상을 획득하는 카메라;주변광의 밝기를 측정하는 광센서; 및상기 광센서로부터 측정된 주변광 밝기 정보를 기반으로, 상기 카메라에 의해 획득된 영상의 밝기를 보정하는 컨트롤러;를 포함하며,상기 카메라는 상기 컨트롤러로부터 영상 획득 신호를 입력 받아 설정 노출 시간 동안 영상을 획득해서 프레임 단위로 저장해서 상기 컨트롤러로 제공하며;상기 광센서는 상기 컨트롤러로부터 주변광 측정 신호를 입력 받아 설
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