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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2021-0165410 (2021-11-26) | |
공개번호 | 10-2023-0078052 (2023-06-02) | |
등록번호 | 10-2545552-0000 (2023-06-15) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020210165410 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2021-11-26) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 이차전지의 결함 검사장치(1) 및 그 방법(S1)에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 이차전지 셀(9)의 부위 별 열(온도) 편차를 발생시킨 이후, 상기 이차전지 셀(9)로부터의 열파(또는 열에너지)를 검출하여 결함 부위를 비접촉식으로 판단하는 이차전지 결함 검사장치(1) 및 그 방법(S1)에 관한 것이다.
투입된 이차전지 셀로부터 열파가 방사되도록 하는 열 편차 발생부;상기 열 편차 발생부에 의하여 이차전지 셀로부터 방사되는 열파를 스캐닝 방향을 따라 측정하여 열화상 이미지를 생성하는 열 계측부; 및상기 열 편차 발생부 및 열 계측부의 동작을 제어하며, 상기 열 계측부로부터 전달되는 열화상 이미지를 기초로 이차전지 셀의 결함 발생 여부를 결정하는 제어부;를 포함하고,상기 열 계측부는이차전지 셀의 열파 형상을 열화상 이미지로 생성하는 열화상 카메라부; 및 상기 열화상 카메라부와 이차전지 셀 사이에 배치되어 이차전지 셀로부터의 열파 형상
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