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연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

해석 장치, 해석 방법 및 해석 프로그램 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-031/28
  • G01R-001/073
  • G06N-020/00
출원번호 10-2021-7008752 (2021-03-24)
공개번호 10-2021-0047926 (2021-04-30)
등록번호 10-2532513-0000 (2023-05-10)
우선권정보 일본(JP) JP-P-2018-193325 (2018-10-12)
국제출원번호 PCT/JP2019/013045 (2019-03-26)
국제공개번호 WO 2020/075328 (2020-04-16)
번역문제출일자 2021-03-24
DOI http://doi.org/10.8080/1020217008752
발명자 / 주소
  • 사카이, 유지 / 일본, 도쿄 *******, 치요다-쿠, 마루노우치, *-*-*, 주식회사 아도반테스토내
  • 스기무라, 하지메 / 일본, 도쿄 *******, 치요다-쿠, 마루노우치, *-*-*, 주식회사 아도반테스토내
출원인 / 주소
  • 주식회사 아도반테스토 / 일본 도쿄 치요다쿠 마루노우치 *-*-*
대리인 / 주소
  • 특허법인씨엔에스
심사청구여부 있음 (2021-03-24)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

피측정 디바이스를 측정한 복수의 측정값을 취득하는 취득부와, 복수의 측정값을 이용하여, 피측정 디바이스를 측정한 위치에 의존한 위치 의존 성분의 모델을 기계 학습에 의해 학습하는 기계 학습부와, 복수의 측정값으로부터, 기계 학습부에 의해 학습된 모델을 이용하여 산출되는 위치 의존 성분을 분리하는 해석부를 구비하는 해석 장치를 제공한다. 또한, 해석 방법을 제공한다. 또한, 해석 프로그램을 제공한다.

대표청구항

시험 장치가 지그를 개재하여 피측정 디바이스를 측정한 복수의 측정값을 취득하는 취득부와,상기 복수의 측정값을 이용하여, 상기 피측정 디바이스를 측정한 위치에 의존한 위치 의존 성분의 모델을 기계 학습에 의해 학습하는 기계 학습부와,상기 복수의 측정값으로부터, 상기 기계 학습부에 의해 학습된 상기 모델을 이용하여 산출되는 위치 의존 성분을 분리하고, 상기 위치 의존 성분이 분리된 상기 복수의 측정값을 이용하여, 상기 지그가 상기 피측정 디바이스에 접촉한 횟수에 따른 측정값의 변동을 나타내는 변동 데이터를 생성하는 해석부를 구비하는 해

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. [한국] 프로브 카드 테스트 시스템 및 방법 | 송정승, 박종태, 오경승, 정기성, 장경훈, 서회철, 조규대
  2. [일본] IN-PLANE DISTRIBUTION DATA COMPRESSION METHOD, IN-PLANE DISTRIBUTION MEASUREMENT METHOD, IN-PLANE DISTRIBUTION OPTIMIZATION METHOD, PROCESS APPARATUS CONTROL METHOD, AND PROCESS CONTROL METHOD | OKUNO YASUTOSHI
  3. [국제] DIAGNOSTIC DEVICE, DIAGNOSTIC METHOD, AND DIAGNOSTIC PROGRAM | UNUMA MUNETOSHI, FUJIWARA JUNSUKE,
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