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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2022-0021229 (2022-02-18) | |
공개번호 | 10-2022-0123578 (2022-09-08) | |
우선권정보 | 일본(JP) JP-P-2021-031711 (2021-03-01) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020220021229 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2022-02-18) | |
법적상태 | 공개 |
[과제] 증착 재료의 방출량의 측정값에 기초하여 성막 동작을 제어하는 성막 장치에 있어서 성막의 정밀도를 향상시킨다.[해결 수단] 기판에 증착 재료를 증착하여 성막을 행하는 성막 장치로서, 증착 재료를 방출하는 증발원으로부터의 증착 재료의 방출량을 측정하는 모니터 수단과, 기판에 있어서의 증착 재료의 막 두께를 측정하는 막 두께 측정 수단을 구비하고, 모니터 수단에 의한 방출량의 측정값에 기초하여 제어되고 있는 성막 동작을, 막 두께 측정 수단에 의한 막 두께의 측정값에 기초하여 교정하는 것을 특징으로 하는 성막 장치를 사용한다.
기판에 증착 재료를 증착하여 성막을 행하는 성막 장치로서,상기 증착 재료를 방출하는 증발원으로부터의 상기 증착 재료의 방출량을 측정하는 모니터 수단과,상기 기판에 있어서의 상기 증착 재료의 막 두께를 측정하는 막 두께 측정 수단을 구비하고,상기 모니터 수단에 의한 상기 방출량의 측정값에 기초하여 행해지고 있는 성막 제어를, 상기 막 두께 측정 수단에 의한 상기 막 두께의 측정값에 기초하여 교정하는 것을 특징으로 하는 성막 장치.
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