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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2022-0056447 (2022-05-09) | |
등록번호 | 10-2501893-0000 (2023-02-16) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020220056447 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2022-05-09) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 전극 활물질을 포함하는 코팅층이 형성된 전극 기판에 열에너지를 가한 후, 열에너지가 가해진 코팅층의 적외선 열화상을 분석하여 코팅층의 표면 결함과 내부 결함 및 두께 결함, 면밀도 결함을 한꺼번에 검사한다. 이로 인해, 코팅층의 표면 및 내부에 발생한 스크래치나 크랙, 용매 기화로 인한 기공 등으로 인한 결함을 검출하고, 코팅층의 두께를 측정하여 코팅층의 두께에 오차가 발생하거나 표면에 두께 변화를 검출하며, 측정된 두께로부터 코팅층의 면밀도를 측정하여 코팅층의 면밀도의 오차나 변화를 검출할 수 있다. 따라서 코팅층의 표
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