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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2022-0079052 (2022-06-28) | |
공개번호 | 10-2022-0093078 (2022-07-05) | |
등록번호 | 10-2616867-0000 (2023-12-18) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020220079052 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2022-08-26) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 비파괴검사 방법, 내지 그 기능을 제공하기 위한 방법에 관한 것으로, 구체적으로는 전자회로기판이 실장된 전자부품 또는 산업용 부품에 대한 투과영상들이 존재할 때에 이들 투과영상들을 대상으로 사용자가 다양한 검사를 수행할 수 있도록 함으로써 다양한 상황 또는 대상체에 따라 사용자가 쉽게 결함 검사를 할 수 있게 한 비파괴검사 기능을 제공하는 방법에 관한 것이다.
비파괴검사 방법으로서,상기 비파괴검사 방법은, 대상 이미지들 - 상기 대상 이미지들은 복수 개의 대상체들에 대한 각각의 투과 영상들임 - 을 기초로 반복적인 비파괴검사를 수행하는 것을 특징으로 하며,상기 비파괴검사 방법은 사용자 입력을 수신하여 검사용 템플릿을 설정하는 단계;를 포함하되,상기 검사용 템플릿을 설정하는 단계는, 관심영역, 및 해당 관심영역 고유의 임계값 g - 상기 임계값 g는 상기 관심영역 내 결함이 존재하는지 여부를 판별하기 위해 기준이 되는 것으로서 임의 픽셀의 밝기값을 나타내는 인텐시티 값임 - 을 설정하는 단
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