초록

본 발명은 비파괴검사 방법, 내지 그 기능을 제공하기 위한 방법에 관한 것으로, 구체적으로는 전자회로기판이 실장된 전자부품 또는 산업용 부품에 대한 투과영상들이 존재할 때에 이들 투과영상들을 대상으로 사용자가 다양한 검사를 수행할 수 있도록 함으로써 다양한 상황 또는 대상체에 따라 사용자가 쉽게 결함 검사를 할 수 있게 한 비파괴검사 기능을 제공하는 방법에 관한 것이다.

대표청구항 ▼

비파괴검사 방법으로서,상기 비파괴검사 방법은, 대상 이미지들 - 상기 대상 이미지들은 복수 개의 대상체들에 대한 각각의 투과 영상들임 - 을 기초로 반복적인 비파괴검사를 수행하는 것을 특징으로 하며,상기 비파괴검사 방법은 사용자 입력을 수신하여 검사용 템플릿을 설정하는 단계;를 포함하되,상기 검사용 템플릿을 설정하는 단계는, 관심영역, 및 해당 관심영역 고유의 임계값 g - 상기 임계값 g는 상기 관심영역 내 결함이 존재하는지 여부를 판별하기 위해 기준이 되는 것으로서 임의 픽셀의 밝기값을 나타내는 인텐시티 값임 - 을 설정하는 단

비파괴검사 방법으로서,상기 비파괴검사 방법은, 대상 이미지들 - 상기 대상 이미지들은 복수 개의 대상체들에 대한 각각의 투과 영상들임 - 을 기초로 반복적인 비파괴검사를 수행하는 것을 특징으로 하며,상기 비파괴검사 방법은 사용자 입력을 수신하여 검사용 템플릿을 설정하는 단계;를 포함하되,상기 검사용 템플릿을 설정하는 단계는, 관심영역, 및 해당 관심영역 고유의 임계값 g - 상기 임계값 g는 상기 관심영역 내 결함이 존재하는지 여부를 판별하기 위해 기준이 되는 것으로서 임의 픽셀의 밝기값을 나타내는 인텐시티 값임 - 을 설정하는 단계; 및마스킹영역, 및 해당 마스킹영역 고유의 임계값 gm - 상기 임계값 gm은 상기 마스킹영역 내 결함이 존재하는지 여부를 판별하기 위해 기준이 되는 것으로서 상기 임계값 g보다 상대적으로 더 어두운 밝기값을 나타내는 인텐시티 값임 - 을 설정하는 단계;를 포함하고,상기 비파괴검사 방법은, 상기 검사용 템플릿을 활용하여 임의의 대상 이미지 내에서 결함 영역을 식별하는 단계를 더 포함하되,상기 결함 영역을 식별하는 단계는 상기 관심영역 및 마스킹영역에 걸쳐 존재하는 결함에 대하여 상기 결함 중 관심영역 내 존재하는 부분은 상기 임계값 g를 기준으로, 상기 마스킹영역 내 존재하는 부분은 상기 임계값 gm을 기준으로 각각 결함 영역을 식별한 후 상기 관심영역 및 마스킹영역 내에서의 결함 영역들 간 연결관계를 보아 하나의 결함으로 인식하는 단계를 포함하는,비파괴검사 방법.