초록

본 발명에 따른 테스트 소켓은, 피검사 디바이스의 단자를 테스트 신호를 발생하는 테스트 보드의 전극 패드에 접속시켜 피검사 디바이스와 상기 테스터를 전기적으로 연결하는 것으로, 접촉부를 정렬된 상태로 위치하게 하는 접촉부 모듈이 테스트 소켓의 탄성부 하부 하우징의 상측에 분리 가능하게 결합되어 있으므로, 테스트 소켓을 테스트 보드에서 분리하지 않고도 접촉부의 교체 작업이 쉽게 이루어질 수 있다. 접촉부 모듈은 접촉부 상부 하우징에 접촉부 하부 하우징이 결합하는 것에 의해 접촉부를 지지한다.

대표청구항 ▼

피검사 디바이스의 단자를 테스트 신호를 발생하는 테스트 보드의 전극 패드에 접속시켜 상기 피검사 디바이스에 대한 전기적 테스트를 수행하는 테스트 소켓에 있어서,상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 접촉부 상부 하우징 홀이 형성된 접촉부 상부 하우징;상기 접촉부 상부 하우징 홀과 대응되는 위치에 접촉부 하부 하우징 홀이 형성된 접촉부 하부 하우징:상기 접촉부 하부 하우징 홀과 대응되는 위치에 탄성부 하부 하우징 홀이 형성된 탄성부 하부 하우징; 및 원통형의 배럴 몸체에 하부 플런저가 탄성력에 의해 지지되어 상기 전극 패드에

피검사 디바이스의 단자를 테스트 신호를 발생하는 테스트 보드의 전극 패드에 접속시켜 상기 피검사 디바이스에 대한 전기적 테스트를 수행하는 테스트 소켓에 있어서,상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 접촉부 상부 하우징 홀이 형성된 접촉부 상부 하우징;상기 접촉부 상부 하우징 홀과 대응되는 위치에 접촉부 하부 하우징 홀이 형성된 접촉부 하부 하우징:상기 접촉부 하부 하우징 홀과 대응되는 위치에 탄성부 하부 하우징 홀이 형성된 탄성부 하부 하우징; 및 원통형의 배럴 몸체에 하부 플런저가 탄성력에 의해 지지되어 상기 전극 패드에 접촉할 수 있는 탄성부와, 상기 탄성부와 별도의 요소로 구성되되, 상기 단자와 접촉할 수 있는 제1 부분과, 상기 탄성부와 접촉하고, 상기 제1 부분보다 큰 직경의 제2 부분을 구비하는 접촉부를 포함하여 이루어지는 복수의 테스트 소켓용 핀;을 포함하되,상기 탄성부는 상기 탄성부 하부 하우징 홀에 배치되어 지지되고,상기 접촉부는 상기 접촉부 상부 하우징의 하측에 상기 접촉부 하부 하우징이 결합하여 형성된 접촉부 모듈의 상기 접촉부 상부 하우징 홀과 상기 접촉부 하부 하우징 홀에 유동 가능하게 배치되어 지지되되, 상기 접촉부가 상기 접촉부 모듈에서 이탈되지 않도록 상기 접촉부 모듈에 조립되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.