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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2023-0072936 (2023-06-07) | |
공개번호 | 10-2023-0090302 (2023-06-21) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020230072936 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2023-06-07) | |
법적상태 | 공개 |
엑스레이 감쇠 공식을 이용한 학습데이터 생성 방법이 제공된다. 본 발명의 일 면에 따른 전자 장치가 수행하는 엑스레이 감쇠 공식을 이용한 학습데이터 생성 방법은, 상기 전자 장치가 양품 이미지 및 이물 이미지를 획득하는 단계; 및 상기 전자 장치가 엑스레이 감쇠 공식을 이용하여 상기 양품 이미지 및 상기 이물 이미지를 합성하여 불량품 이미지를 생성하는 단계;를 포함할 수 있다.
전자 장치가 수행하는 딥러닝 기반의 불량품 이미지를 생성하는 학습데이터 구축 방법에 있어서,상기 전자 장치가 양품 이미지 및 이물 이미지를 획득하는 단계;상기 전자 장치가 엑스레이 감쇠 공식을 이용하여 상기 양품 이미지 및 상기 이물 이미지를 합성하여 불량품 이미지를 생성하는 단계; 및상기 전자 장치가 엑스레이 감쇠 공식 및 상기 생성된 불량품 이미지를 이용하여 복수의 불량품 이미지를 추가로 생성하는 단계를 포함하고,상기 복수의 불량품 이미지를 추가로 생성하는 단계에서,상기 전자 장치는, 상기 양품 이미지보다 크기가 작은 상기 이물
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