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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0860139 (1986-05-06) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 0 |
A self-aligned process for fabricating a GaAs semiconductor MESFET by depositing a layer of tungsten over the GaAs substrate, and ion implanting the substrate to provide channel doping. A gate composed of a conductive refractory material is deposited and delineated on the tungsten layer, and source
A self-aligned process for fabricating a semiconductor MESFET device comprising the steps of: providing a semiconductor substrate; depositing a layer of tungsten over said substrate; ion implanting said substrate with a dopant species through said layer of tungsten to provide channel doping; deposit
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