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Self-aligned fabrication process for GaAs MESFET devices 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/265
  • H01L-021/44
출원번호 US-0860139 (1986-05-06)
발명자 / 주소
  • Hayes John R. (Summit NJ)
출원인 / 주소
  • Bell Communications Research, Inc. (Livingston NJ 02)
인용정보 피인용 횟수 : 14  인용 특허 : 0

초록

A self-aligned process for fabricating a GaAs semiconductor MESFET by depositing a layer of tungsten over the GaAs substrate, and ion implanting the substrate to provide channel doping. A gate composed of a conductive refractory material is deposited and delineated on the tungsten layer, and source

대표청구항

A self-aligned process for fabricating a semiconductor MESFET device comprising the steps of: providing a semiconductor substrate; depositing a layer of tungsten over said substrate; ion implanting said substrate with a dopant species through said layer of tungsten to provide channel doping; deposit

이 특허를 인용한 특허 (14)

  1. Gatterbauer, Johann; Weidgans, Bernhard, Contact pads with sidewall spacers and method of making contact pads with sidewall spacers.
  2. Gatterbauer, Johann; Weidgans, Bernhard, Contact pads with sidewall spacers and method of making contact pads with sidewall spacers.
  3. Murai, Shigeyuki; Fujii, Emi; Matsushita, Shigeharu; Tominaga, Hisaaki, Field effect transistor semiconductor and method for manufacturing the same.
  4. Morikawa Hiroshi (Tokyo JPX), Method of making a field effect transistor with overlay gate structure.
  5. Park Hyung M. (Daejeon KRX) Kim Dong G. (Daejeon KRX), Method of manufacturing a self-aligned GaAs MESFET with T type tungsten gate.
  6. Lockwood Harry F. (Waban MA) Stern Margaret B. (Sudbury MA) Tabasky Marvin (Peabody MA) Cataldo Victor (Wilmington MA), Method of selectively producing conductive members on a semiconductor surface.
  7. Noda Minoru (Itami JPX), Production method for a semiconductor device.
  8. Plumton Donald L. (Dallas TX) Tran Liem T. (Dallas TX) Shih Hung-Dah (Plano TX), Selective epitaxy devices and method.
  9. Guo, Dechao; Han, Shu-Jen; Kim, Jeehwan; Shiu, Kuen-Ting, Self-aligned III-V MOSFET fabrication with in-situ III-V epitaxy and in-situ metal epitaxy and contact formation.
  10. Guo, Dechao; Han, Shu-Jen; Kim, Jeehwan; Shiu, Kuen-Ting, Self-aligned III-V MOSFET fabrication with in-situ III-V epitaxy and in-situ metal epitaxy and contact formation.
  11. Geissberger Arthur E. (Roanoke VA) Sadler Robert A. (Roanoke VA) Luper Paulette (Salem VA) Balzan Matthew L. (Roanoke VA), Self-aligned gate realignment employing planarizing overetch.
  12. Lien, Chuen-Der; Lee, S. K., Semiconductor integrated circuit with an insulation structure having reduced permittivity.
  13. Calviello Joseph A. (Kings Park NY) Bie Paul R. (Commack NY) Ward David (Roslyn Heights NY), T-type undercut electrical contact on a semiconductor substrate.
  14. Calviello Joseph A. (Kings Park NY) Bie Paul R. (Commack NY) Ward David (Roslyn Heights NY), T-type undercut electrical contact process on a semiconductor substrate.

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