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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0730744 (1991-07-16) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 19 인용 특허 : 0 |
An improved method for inhibiting tin whisker growth involving the implantation in a tin coating of an ion or ions selected from the group Pb, Bi, Sb, Tl, Cu, Ag, Au, Cd, Mo, Cr, W, Ar, He, Ne and Kr.
A method for preventing the development and growth of tin whiskers, comprising the steps of: providing an electrical component having a tin coating; and inhibiting whisker growth on the tin coating by implanting into the surface of said tin coating an ion selected from the group consisting of Pb, Bi
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