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IDDQ-testable RAM 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G11C-013/00
출원번호 US-0299043 (1994-08-31)
우선권정보 EP-0202555 (1993-09-01)
발명자 / 주소
  • Sachdev Manoj (Eindhoven NLX)
출원인 / 주소
  • U.S. Philips Corporation (New York NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 0

초록 ▼

An electronic circuit includes an array of a number of memory cells that are functionally organized in rows and columns. The circuit includes test circuitry that is selectively operative to access all cells of the array in parallel. An IDDQ-test then discovers whether or not there is a defect in any

대표청구항 ▼

Electronic circuitry with a memory having a plurality of memory cells functionally organized in rows and columns, characterized in that the circuitry comprises test circuitry for selectively operative to connect and access simultaneously and in parallel a selected number of at least two memory cells

이 특허를 인용한 특허 (18)

  1. Teene Andres R., Apparatus and method for testing of integrated circuits.
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  2. Kuroda Tadahiro,JPX, CMOS integrated circuit device and its inspecting method and device.
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  3. Kuroda Tadahiro,JPX, CMOS integrated circuit device and its inspecting method and device.
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  4. Gabillard Bertrand,FRX ; Rivier Michel,FRX, Circuit for testing a semiconductor chip having embedded arrays intermixed with logic.
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  5. Schwarz William, Data retention weak write circuit and method of using same.
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  6. Sim Hyun S. (Kyungki-do KRX), Flash memory device.
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  7. Sakaguchi Kazuhiro,JPX, Integrated circuit fault testing system based on power spectrum analysis of power supply current.
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  8. Roehr,Thomas; Symanczyk,Ralf; Kund,Michael, Memory having CBRAM memory cells and method.
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  9. Van de Graaff Scott D. ; Porter Stephen R., Method and apparatus for programmable control signal generation for a semiconductor device.
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  10. Adams, R. Dean; Deo, Aneesha P.; Zarrineh, Kamran, Method and apparatus for testing memory cells for data retention faults.
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  11. Kawano Kenji,JPX, Method of testing integrated circuit including a DRAM.
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  12. Campardo, Giovanni, Non-volatile memory capable of autonomously executing a program.
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  13. Chen Chan Yuan,TWX ; Chi Kao Min,TWX, Process leakage evaluation and measurement method.
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  14. Li, Hai; Chen, Yiran; Wang, Alan Xuguang; Xi, Haiwen; Zhu, Wenzhong; Roelofs, Andreas K., Quiescent testing of non-volatile memory array.
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  15. Kurjanowicz, Wlodek; Wiatrowski, Jacek; Kowalczyk, Dariusz; Popoff, Greg, RAM having dynamically switchable access modes.
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  16. Adams R. Dean ; Busch Robert E. ; Pilo Harold ; Rudgers George E., Semiconductor memory device having resistive bitline contact testing.
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  17. Jacobson,Lee James; Karry,Todd Wayne, System and method for providing testing and failure analysis of integrated circuit memory devices.
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  18. Jacobson,Lee James; Karry,Todd Wayne, System and method for providing testing and failure analysis of integrated circuit memory devices.
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