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NTIS 바로가기한국음향학회지= The journal of the acoustical society of Korea, v.18 no.3, 1999년, pp.43 - 48
문홍진 (전주대학교 컴퓨터공학과) , 배성환 (한려대학교 정보통신학과)
IDDQ testing is one of current testing methodologies which increases circuit's reliability by means of finding defects which can't be detected by functional testing in CMOS circuits. In this paper, we design a Built-In Current Sensor(BICS) circuit, which can be embedded in chip under test, that perf...
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