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[미국특허] Method of making substractive rim phase shifting masks 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B44C-001/22
출원번호 US-0489777 (1995-06-13)
발명자 / 주소
  • Rolfson J. Brett (Boise ID)
출원인 / 주소
  • Micron Technology, Inc. (Boise ID 02)
인용정보 피인용 횟수 : 27  인용 특허 : 0

초록

An improved method for fabricating phase shifting masks suitable for semiconductor manufacture is provided. A photolithographic mask blank comprising a transparent substrate having an opaque layer of a standard thickness is provided. Using a photoresist mask, the opaque layer is patterned and etched

대표청구항

A method for forming a rim phase shifting mask for semiconductor manufacture comprising: forming an opaque layer having a thickness of “t”on a transparent substrate; forming a mask on the opaque layer; etching openings through the opaque layer to the substrate using the mask to form a pattern of opa

이 특허를 인용한 특허 (27)

  1. Anderson, Brent A.; Rankin, Jed H., Chromeless phase-shifting photomask with undercut rim-shifting element.
  2. Anderson, Brent A.; Rankin, Jed H., Chromeless phase-shifting photomask with undercut rim-shifting element.
  3. Cutter Douglas J. ; Pierrat Christophe, Electrically programmable photolithography mask.
  4. Cutter, Douglas J.; Pierrat, Christophe, Electrically programmable photolithography mask.
  5. Cutter, Douglas J.; Pierrat, Christophe, Electrically programmable photolithography mask.
  6. Douglas J. Cutter ; Christophe Pierrat, Electrically programmable photolithography mask.
  7. Pierrat Christophe, Method for optimizing printing of a phase shift mask having a phase shift error.
  8. Pierrat, Christophe; Jeng, Nanseng, Method for optimizing printing of an alternating phase shift mask having a phase shift error.
  9. Trung Tri Doan, Method of fabricating attenuated phase shift mask.
  10. Rolfson J. Brett, Method of forming a phase shifting reticle.
  11. Garza, Cesar M.; Wu, Wei E.; Roman, Bernard J.; Mangat, Pawitter J. S.; Nordquist, Kevin J.; Dauksher, William J., Method of forming a rim phase shifting mask and using the rim phase shifting mask to form a semiconductor device.
  12. Chance,Randall W.; Rolfson,J. Brett; Zerrade,Azeddine, Methods for converting reticle configurations.
  13. Chance, Randall W.; Rolfson, J. Brett; Zerrade, Azeddine, Methods for converting reticle configurations and methods for modifying reticles.
  14. J. Brett Rolfson, Methods of determining processing alignment in the forming of phase shift regions.
  15. Baggenstoss, Bill, Methods of patterning radiation, methods of forming radiation-patterning tools, and radiation-patterning tools.
  16. Baggenstoss, Bill, Methods of patterning radiation, methods of forming radiation-patterning tools, and radiation-patterning tools.
  17. Baggenstoss, Bill, Methods of patterning radiation, methods of forming radiation-patterning tools, and radiation-patterning tools.
  18. Baggenstoss,Bill, Methods of patterning radiation, methods of forming radiation-patterning tools, and radiation-patterning tools.
  19. Pierrat Christophe, Phase shift structure and method of fabrication.
  20. Talor, George; Preisler, Edward; Howard, David J., Semiconductor fabrication utilizing grating and trim masks.
  21. Sandhu, Gurtej S., Semiconductor structure, capacitor, mask and methods of manufacture thereof.
  22. Pierrat Christophe, Subresolution grating for attenuated phase shifting mask fabrication.
  23. Pierrat Christophe, Subresolution grating for attenuated phase shifting mask fabrication.
  24. Pierrat Christophe, Subresolution grating for attenuated phase shifting mask fabrication.
  25. Pierrat, Christophe, Subresolution grating for attenuated phase shifting mask fabrication.
  26. Pierrat Christophe, Use of attenuating phase-shifting mask for improved printability of clear-field patterns.
  27. Pierrat Christophe, Use of attenuating phase-shifting mask for improved printability of clear-field patterns.
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