최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0279110 (1994-07-22) |
우선권정보 | JP-0225547 (1993-09-10) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 30 인용 특허 : 7 |
A cleaning of a plasma chamber is done by a NF3 plasma treatment (typically under 1 to 1.5 Torr). The etching rate of an oxide layer can be improved by inserting, between the NF3 plasma treatments, a low pressure (lower than 10-1 Torr) plasma treatment preferably in a plasma of oxygen, water vapor,
A process for in-situ cleaning of a plasma treatment chamber, said process comprising the steps of: conducting a first plasma treatment in a plasma treatment chamber with nitrogen trifluoride plasma at a first pressure, so as to remove an oxide layer previously deposited inside the plasma treatment
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.