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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0890775 (1997-07-11) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 97 인용 특허 : 6 |
A system for automatic spreading resistance profiling of wafer specimens. The system comprises a positioning stage for positioning the specimens for contact by probe tips and alternately a probe conditioning fixture or a sample calibration fixture. The system further comprises a programmed computer
[ What is claimed is:] [1.] A system for automatic spreading resistance profiling of one or a plurality of wafer specimens that have been prepared with a beveled surface and original surface intersecting at an edge comprising:a resistance measuring unit including positive and negative voltage probe
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