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NTIS 바로가기국가/구분 | WIPO(WO) A1 공개 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | CN2021/108720 (2021-07-27) |
공개번호 | 2022/033300 (2022-02-17) |
우선권정보 | 202010816387.3 (2020-08-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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An MEMS probe card, which belongs to the technical field of IC manufacturing operations. In particular related to are micro-electromechanical system manufacturing, semiconductor bare core testing and related key techniques. The probe card sequentially comprises, from top to bottom, a reinforcing mem
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