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NTIS 바로가기등록일자 | 2013-07-23 |
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출처 | RESEAT |
URL | https://www.reseat.or.kr/portal/cmmn/file/fileDown.do?menuNo=200019&atchFileId=f55c4d1b534a4d89952814d944ca5fd1&fileSn=1&bbsId= |
컴퓨터 칩에 사용되는 금속산화물반도체 전계효과 트랜지스터(Metal-Oxide Semiconductor Field-Effect Transistor: MOSFET)의 크기를 더 축소하려면 트랜지스터 채널에 흐르는 전류의 게이트 제어를 개선하기 위하여 더 복잡한 구조가 필요할 것이다. 이런 진보된 설계는 성능을 유지하면서 크기를 줄이는 트랜지스터 비례축소화(scaling)를 가능케 하며 디바이스가 꺼진(off) 상태일 때 전류의 누전을 최소화한다. 그러면 성능의 저하 없이 작동 전압을 줄일 수 있어 디바이스는 연산 당 더 적은 전력으로
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