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NTIS 바로가기등록일자 | 2005-05-02 |
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출처 | KOSEN-코센리포트 |
URL | https://kosen.kr/info/kosen/290688 |
문서암호 : www.kosen21.org
1. 분석자 서문
본 자료는 최근 들어 나노구조체의 표면 분석 등에 널리 활용되고 있는 주사탐침현미경 기법 (Scanning probe microscopy: SPM)의 적용 예 중 혼성 나노구조물의 특성 분석 및 제작에 관한 여러 사례를 기술한 것이다. 대표 저자는 미국 Northwestern 대학, Material science and engineering 과의 Mark C. Hersam 교수로 SPM 기기 개선 및 SPM기법을 활용한 Si 단분자 트랜지스터 연구, 나노패
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