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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국표준과학연구원 Korea Research Institute of Standards and Science |
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연구책임자 | 정명세 |
참여연구자 | 장경호 , 엄천일 , 엄태봉 , 김정현 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1991-07 |
주관부처 | 과학기술부 |
연구관리전문기관 | 한국표준과학연구원 Korea Research Institute of Standards and Science |
등록번호 | TRKO200200005462 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | X-선간섭계.실ㄹ기콘 단결정.관학간섭계.LLL간섭계.수중질량측정장치.실리콘 밀도샘플 제작.실리콘 밀도측정.X-ray interferometer.silicon single crystal.optical interferometer.LLL interferometer.hydrostatic weighing system.making silicon density sample.measurement of silicon density. |
연구개발의 내용 및 범위
1. 격자상수 측정
- X선 간섭계의 제작
- 광학간섭계의 제작
- 실리콘 격자상수 정밀 측정
2. 밀도측정
- 표준밀도구의 절대밀도 측정
- 수중 질량측정 장치의 제작 및 자동화
- 실리콘 밀도의 정밀 측정
1. Lattice constant measurement
2. Density measurement
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