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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국과학기술원 Korea Advanced Institute of Science and Technology |
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연구책임자 | 김승우 |
참여연구자 | 김동식 , 강민구 , 장인철 , 김태호 , 김민석 , 유승봉 , 이혁교 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1999-01 |
주관부처 | 과학기술부 |
사업 관리 기관 | 한국과학기술원 Korea Advanced Institute of Science and Technology |
등록번호 | TRKO200200008389 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
▷ 본 연구는 미세측정분야에서 10-6의 상대불확도를 만족하는 3차원 형상측정기술을 개발하는 과제로서 100mm X 100mm X 100mm이상의 대역범위에서 1nm의 측정분해능을 실현함과 동시에 0.1μm의 측정불확도를 구현할 수 있는 미세 삼차원 형상 계측제어를 구체적인 목표로 하였다. 광위상 간섭계를 이용한 측정프로브와 6자유도 구동이 가능한 초정밀 스테이지를 제작하고 이들을 통합하여 운영할 수 있는 프로그램을 개발하여 측정시
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