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NTIS 바로가기주관연구기관 | 중앙대학교 Chung Ang University |
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연구책임자 | 황호정 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1993-02 |
주관부처 | 과학기술부 |
사업 관리 기관 | 중앙대학교 Chung Ang University |
등록번호 | TRKO200200014644 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 반도체소자공정.시뮬레이터.확산공정.경계요소법.이온주입.산화.다차원.Computer Simulation.Impurity diffusion.Numerical analysis.Implantation Semiconductor Peocess.Oxidation.Multidimentional. |
본 연구에서는 기초적인 물리적 메카니즘을 토대로, 초소형소자 공정에서 발생하여 소자 및 회로기능에 영향을 주는 다차원적인 현상들을 이해하고 이들을 성공적으로 예측할 수 있는 해석적, 수치적 모델들을 구축하였다. 해석모델들에 대한 계수파라미터의 추출은 실험치 또는 Monte Carlo 계산에 의거하였으며 편미분방정식으로 표현되는 수치모델을 효율적으로 풀기위하여 새로운 알고리즘을 적용하였고 최적 입력조건을 도출하였다. 즉, 반도체 주요공정에 대한 기초물리와 ULSI 공정상에서 발생가능한 다차원 효과를 위해 구축된 해석모델 및 편미분방
In this investigation, it is qualitatively and quantitatively demonstrated that the shrinked multidimentional structures for ULSI and GSI could cause undesirable effects such as mask dependent lateral scattering, narrow window effect and mask corner effect. Fundamental physics and the effects of thr
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