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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국과학기술원 Korea Advanced Institute of Science and Technology |
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연구책임자 | 이희철 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1993-08 |
주관부처 | 과학기술부 |
연구관리전문기관 | 한국과학기술원 Korea Advanced Institute of Science and Technology |
등록번호 | TRKO200200016580 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | CaF2.단결정.초미세 패턴.평탄화.KTA.CaF2.singel crystal.flattening.ultra-fine petterning.KTA. |
전자선 조사를 이용한 CaF? 박막의 fine patterning resolution을 더욱 향상시키기 위하여 (100)Si 기판상에 CaF? epitaxial 박막을 성장하고 원자 level 로 평탄한 CaF?극박막을 형성하는데 그 목표를 두고 있다. 본 연구에서는 진공 증착법을 이용하여 stoichiometry를 만족시키는 양질의 CaF?박막을 성장전 기판의 열처리, 성장시 기판 온도 , 성장속도, RTA등의 parameter를 변화시켜 성장하였으며, 박막의 결정성과 막질 평가는 X-Ray diffractometer, RHEE
In this work, CaF? epitaxial single crystal films were grown onto the (100)-oriented Si substrate to be utilized as an e-beam resist material for ultra fine patterning. Optimum growth condition of single crystal CaF? epitaxial thin film was founded to be 600℃ at a rate of 2㎚/min. The crystallity a
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